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Autor:
Silva, Maurício Banaszeski da
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Microeletrônica
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Português
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Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
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Silva, Maurício Banaszeski da
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Microeletrônica
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1
Circuito on-chip para a caracterização em alta escala do efeito de Bias Temperature Instability
Por
Silva, Maurício Banaszeski da
Publicado em 2016
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Dissertação
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Instituição de defesa
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
1
Bases coletadas
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
1
Autor
Silva, Maurício Banaszeski da
Orientador(a)
Wirth, Gilson Inacio
1
Tipo de documento
Dissertação
1
Tipo de acesso
openAccess
1
Idioma
Português
Assunto
Circuitos integrados
1
Microeletrônica
Assunto em inglês
Bias temperature instability (BTI)
1
Deeply scaled transistors
1
Large-scale characterization
1
Performance degradation (Aging)
1
Reliability
1
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De:
Até:
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