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Orientador(a):
Assis, Joaquim Teixeira de
Assunto em inglês:
EDXRF
Bases coletadas:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UERJ
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Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UERJ
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Orientador(a):
Assis, Joaquim Teixeira de
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1
Desenvolvimento de metodologia e código computacional para a medida de espessura de revestimentos em metal por fluorescência de raios X
Por
Sousa, Luiz Fernando Rosalba Telles de
Publicado em 2016
Acessar documento
Tese
2
Medição de espessura de filmes eletrodepositados em suporte metálico por EDXRF
Por
Santos, Marcos Rogério Soares
Publicado em 2013
Acessar documento
Dissertação
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Instituição de defesa
Universidade do Estado do Rio de Janeiro (UERJ)
2
Bases coletadas
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UERJ
Programa de Pós-Graduação
Programa de Pós-Graduação em Ciência e Tecnologia de Materiais
1
Programa de Pós-Graduação em Modelagem Computacional
1
Autor
Santos, Marcos Rogério Soares
1
Sousa, Luiz Fernando Rosalba Telles de
1
Orientador(a)
Assis, Joaquim Teixeira de
Tipo de documento
Tese
1
Dissertação
1
Tipo de acesso
openAccess
2
Idioma
Português
2
Assunto
EDXRF
2
Eletrodeposição
1
Espessura
1
Espessura de revestimento metálico
1
Filmes finos
1
Filmes metálicos
1
Mais ...
Fluorescencia de raio X
1
Galvanoplastia
1
Raios X - Fluorescência
1
Raios X - Métodos de simulação
1
Revestimento de metal
1
Revestimentos
1
XRF
1
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Assunto em inglês
EDXRF
Galvanoplasty
1
Thickness
1
Thickness Thin Films
1
Thin films
1
X-Ray
1
Mais ...
XRF
1
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menos ...
Área do conhecimento CNPq
ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICA
1
ENGENHARIA NUCLEAR
1
Ano da publicação
De:
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