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Orientador(a):
Assis, Joaquim Teixeira de
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Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UERJ
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1
Desenvolvimento de metodologia e código computacional para a medida de espessura de revestimentos em metal por fluorescência de raios X
Por
Sousa, Luiz Fernando Rosalba Telles de
Publicado em 2016
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Tese
2
Uso da técnica de EDXRF na análise de gemas semi preciosas brasileiras
Por
Rezier, Ayxa Nara de Souza
Publicado em 2017
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Dissertação
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Instituição de defesa
Universidade do Estado do Rio de Janeiro (UERJ)
2
Bases coletadas
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UERJ
Programa de Pós-Graduação
Programa de Pós-Graduação em Ciência e Tecnologia de Materiais
1
Programa de Pós-Graduação em Modelagem Computacional
1
Autor
Rezier, Ayxa Nara de Souza
1
Sousa, Luiz Fernando Rosalba Telles de
1
Orientador(a)
Assis, Joaquim Teixeira de
Tipo de documento
Tese
1
Dissertação
1
Tipo de acesso
openAccess
2
Idioma
Português
2
Assunto
XRF
2
Caracterização
1
EDXRF
1
Espessura
1
Filmes finos
1
Fluorescência
1
Mais ...
Gemas (Mineralogia)
1
Pedras preciosas
1
Raios X
1
Raios X - Fluorescência
1
Raios X - Métodos de simulação
1
Revestimento de metal
1
Revestimentos
1
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Assunto em inglês
X-Ray
2
XRF
Characterization
1
EDXRF
1
Fluorescence
1
Gems
1
Mais ...
Thickness
1
Thin films
1
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menos ...
Área do conhecimento CNPq
ENGENHARIA NUCLEAR
1
APLICACOES DE RADIOISOTOPOS
1
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De:
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