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Programa de Pós-Graduação:
Mestrado em Física Aplicada
Área do conhecimento CNPq:
CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADA
Assunto:
Microscopia de força atômica
Tipo de acesso:
openAccess
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UFV
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Programa de Pós-Graduação:
Mestrado em Física Aplicada
Área do conhecimento CNPq:
CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADA
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Microscopia de força atômica
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1
Nanolitografia do silício utilizando o microscópio de força atômica
Por
Santolin, Marcus Antônio
Publicado em 2009
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Dissertação
2
Microscopia de força atômica in-situ de superfícies de membranas poliméricas de Nafion com nanopartículas de sílica incorporadas
Por
Santos, Danielle Fernandes Amaro dos
Publicado em 2008
Acessar documento
Dissertação
3
Crescimento e caracterização de pontos quânticos de CdMnTe
Por
Lage, Marielle Hoalle Moreira Benevides
Publicado em 2013
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Dissertação
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Instituição de defesa
Universidade Federal de Viçosa (UFV)
3
Bases coletadas
LOCUS Repositório Institucional da UFV
3
Programa de Pós-Graduação
Mestrado em Física Aplicada
Autor
Lage, Marielle Hoalle Moreira Benevides
1
Santolin, Marcus Antônio
1
Santos, Danielle Fernandes Amaro dos
1
Orientador(a)
Ferreira, Sukarno Olavo
2
Munford, Maximiliano Luis
1
Tipo de documento
Dissertação
3
Tipo de acesso
openAccess
Idioma
Português
3
Assunto
Microscopia de força atômica
Epitaxia
1
In-situ
1
Manganês
1
Nanoestruturas
1
Nanolitografia
1
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Polímero
1
Raios X - Difração
1
Semicondutores
1
Silício
1
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Assunto em inglês
Atomic force microscopy
3
Epitaxy
1
In-Situ
1
Manganese
1
Nanolithography
1
Nanostructures
1
Mais ...
Polymer
1
Semiconductors
1
Silicon
1
X - Rays
1
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menos ...
Área do conhecimento CNPq
FISICA DA MATERIA CONDENSADA
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