Portal do Governo Brasileiro
s
Mostrando
1 - 3
resultados de
3
para a busca '
'
Pular para o conteúdo
Institucional
Sobre
Como participar
Diretrizes
Indicadores
Rede
Instituições participantes
Tecnologia
Faq
Contato
A sua conta
Sair
Entrar
Todos os campos
Título
Ano da publicação
Autor
Assunto
Resumo
Buscar
Busca avançada
Assunto:
Cmos
E
Microeletrônica
E
Tolerancia : Falhas
Outro:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Mostrar filtros (4)
Assunto:
Cmos
E
Microeletrônica
E
Tolerancia : Falhas
Outro:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Resultados da busca
Mostrando
1 - 3
resultados de
3
para a busca '
'
, tempo de busca: 0,05s
Ordenar:
Relevância
Data descendente
Data ascendente
Área
Autor
Título
Exportar
Exportar RIS
Exportar CSV
1
Electromigration aware cell design
Por
Posser, Gracieli
Publicado em 2015
Acessar documento
Tese
2
Analysis of transistor sizing and folding effectiveness to mitigate soft errors
Por
Assis, Thiago Rocha de
Publicado em 2009
Acessar documento
Dissertação
3
A reliability analysis approach to assist the design of aggressively scaled reconfigurable architectures
Por
Pereira, Mônica Magalhães
Publicado em 2012
Acessar documento
Tese
Voltar
Refinar a Busca
Instituição de defesa
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
3
Bases coletadas
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
3
Autor
Assis, Thiago Rocha de
1
Pereira, Mônica Magalhães
1
Posser, Gracieli
1
Orientador(a)
Reis, Ricardo Augusto da Luz
2
Carro, Luigi
1
Tipo de documento
Tese
2
Dissertação
1
Tipo de acesso
openAccess
3
Idioma
Inglês
3
Assunto
Cmos
Microeletrônica
Tolerancia : Falhas
Deteccao : Erros
1
Assunto em inglês
Fault tolerance
2
Microelectronics
2
AC EM
1
Cell-level
1
Circuit lifetime
1
Electromigration
1
Mais ...
Folding
1
Physical design
1
Radiation effects
1
Reconfigurable architectures
1
Reliability analysis
1
Scaling
1
Single event effect
1
Soft errors
1
Transistor sizing
1
Ver todos ...
menos ...
Ano da publicação
De:
Até:
Carregando...