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Difração de raios X
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Microscopia de força atômica
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Difração de raios X
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Microscopia de força atômica
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1
Filmes finos dielétricos para a tecnologia do silício : processamento térmico e caracterização
Por
Rosa, Elisa Brod Oliveira da
Publicado em 2003
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Tese
2
Estudo de propriedades magnéticas de filmes finos de cobalto sobre Si(111)
Por
Zagonel, Luiz Fernando
Publicado em 2003
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Dissertação
3
Síntese e caracterização de nanoestruturas formadas pela anodização de titânio
Por
Bonatto, Fernando
Publicado em 2009
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Dissertação
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Instituição de defesa
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
3
Bases coletadas
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
3
Autor
Bonatto, Fernando
1
Rosa, Elisa Brod Oliveira da
1
Zagonel, Luiz Fernando
1
Orientador(a)
Geshev, Julian Penkov
1
Schmidt, Joao Edgar
1
Stedile, Fernanda Chiarello
1
Teixeira, Sergio Ribeiro
1
Tipo de documento
Dissertação
2
Tese
1
Tipo de acesso
openAccess
Idioma
Português
3
Assunto
Difração de raios X
Microscopia de força atômica
Filmes finos
2
Silício
2
Alumínio
1
Anisotropia magnética
1
Mais ...
Anodização
1
Cobalto
1
Deposicao de filmes finos
1
Deposição de vapor químico
1
Deposição por sputtering
1
Difusão
1
Efeito kerr otico
1
Espectroscopia
1
Feixes de íons
1
Filmes finos dieletricos
1
Física da matéria condensada
1
Magnetização
1
Materiais nanoestruturados
1
Microscopia de tunelamento
1
Microscopia eletrônica de varredura
1
Mosfet
1
Propriedades magnéticas
1
Titânio
1
Tratamento térmico
1
Zircônia
1
Óxidos
1
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