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Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Assunto:
Microeletrônica
Autor:
Silva, Maurício Banaszeski da
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1
Circuito on-chip para a caracterização em alta escala do efeito de Bias Temperature Instability
Por
Silva, Maurício Banaszeski da
Publicado em 2016
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Dissertação
2
A physics-based statistical random telegraph noise model
Por
Silva, Maurício Banaszeski da
Publicado em 2016
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Tese
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Instituição de defesa
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
2
Bases coletadas
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
2
Autor
Silva, Maurício Banaszeski da
Orientador(a)
Wirth, Gilson Inacio
2
Tipo de documento
Tese
1
Dissertação
1
Tipo de acesso
openAccess
2
Idioma
Inglês
1
Português
1
Assunto
Microeletrônica
Circuitos integrados
1
Mosfet
1
Assunto em inglês
Bias temperature instability (BTI)
1
Deeply scaled transistors
1
Flicker noise
1
Halo implants
1
Large-scale characterization
1
Low frequency noise (LFN)
1
Mais ...
MOSFETs
1
Performance degradation (Aging)
1
Power spectral density (PSD)
1
Random telegraph noise (RTN)
1
Reliability
1
Statistical model
1
Variability
1
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