Análise do comportamento anódico de filmes finos de óxido de zinco dopados com alumínio (ZnO/ZnMgO/ZnO) - Alcântara, Licione Pereira (2013)
RESUMO: Os filmes finos de óxido de zinco são semicondutores amplamente utilizados como eletrodo condutor transparente em células fotovoltaica, em displays e em diferentes outros dispositivos óptico-eletrônicos. Neste trabalho, os filmes finos de heteroestruturas em três camadas, depositados pela técnica de arco catódico filtrado em atmosfera de oxigênio, foram investigados quanto a sua resistência à corrosão. Para tanto, foram feitos ensaios de polarização cíclica em uma solução salina com 3,5% em peso de cloreto de sódio, em sete filmes de ZnO/ZnMgO/ZnO formados por duas camadas de óxido de zinco dopadas com alumínio e intermediadas com outra de óxido de zinco e magnésio (ZnMgO). Essas camadas internas de ZnMgO foram variadas com diferentes números de pulsos de 0 a 100 (B0 a B100). A densidade de corrente de todos os filmes com camada de ZnMgO (B20, B30, B40, B50, B70 e B100) caiu substancialmente quando comparada com o filme sem essa camada intermediária (B0), o que demonstra um considerável aumento na resistência à corrosão desses filmes em comparação aos filmes referência com apenas uma camada de ZnO.