Referência de acordo com a norma APA

CÂNDIDO, M. R. (1997). Correlação entre vetores de teste para falhas Stuck-at e Stuck-open em circuitos digitais com alto teste incorporado.

Referência de acordo com a norma Chicago

CÂNDIDO, Marcos Rogério. Correlação Entre Vetores De Teste Para Falhas Stuck-at E Stuck-open Em Circuitos Digitais Com Alto Teste Incorporado. 1997.

Referência de acordo com a norma MLA

CÂNDIDO, Marcos Rogério. Correlação Entre Vetores De Teste Para Falhas Stuck-at E Stuck-open Em Circuitos Digitais Com Alto Teste Incorporado. 1997.

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