Caracterização de filmes finos de CdTe por meio de teoria de escala anômala - Nascimento, Fábio Santos (2010)
Filmes de telureto de cádmio crescidos sobre substratos de vidro recobertos com oxido de estanho dopado com flúor (TCO) foram estudados usando a teoria de escala dinâmica proposta por Lopez et al. [Phys. Rev. Lett. 84, 2199 (2000)]. As amostras foram crescidas por Ferreira et al. [Appl. Phys. Lett. 88, 244102 (2006)] usando a técnica de epitaxia por paredes quentes e as propriedades de escala da interface foram investigadas neste trabalho através do espectro de potência, da função de correlação de alturas e da espessura da interface. A teoria usada possui seis expoentes de escala, sendo quatro independentes. Entretanto, para classificar qual regime de crescimento o sistema obedece deve-se analisar três desses expoentes, a saber, α, αloc e αs relacionados com as flutuações globais, locais e do espectro de potência da interface, respectivamente. Os resultados mostram que o sistema estudado apresenta comportamento de escala anômalo caracterizado pelo expoente de rugosidade global diferente da rugosidade local. Mais precisamente, em acordo com a teoria usada, encontramos um regime de crescimento com interfaces facetadas caracterizadas por α loc = 1 e α ≠ α s > 1. Essa previsão da teoria de escala anômala foi corroborada através de microscopia de força atômica das amostras. Conjecturamos que efeitos não-locais originados pela desordem inicial imposta pelo substrato amorfo são os fatores que originam o comportamento de escala anômalo.