Espalhamento Raman em heteroestruturas semicondutoras de Si/Ge

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 1995
Autor(a) principal: Silva, Marcos Antonio Araujo
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Tese
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: [s.n.]
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1582914
Resumo: Orientador: Fernando Cerdeira
id UNICAMP-30_8e00c385283bfd1bca4b3acfa3a0b0f5
oai_identifier_str oai::97339
network_acronym_str UNICAMP-30
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
repository_id_str
spelling Espalhamento Raman em heteroestruturas semicondutoras de Si/GeSemicondutoresGermânioSilícioOrientador: Fernando CerdeiraTese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb WataghinResumo: Nós utilizamos espectroscopia Raman para estudar a dinâmica de rede de heteroestruturas semicondutoras de Si/Ge, tanto experimental quanto teoricamente. Foi feito um estudo de uma ampla região espectral, (de ~ 2 cm-1 até 600 cm-1), que inclui fônons acústicos dobrados, fônons de interface, e fônons ópticos confinados. Nós utilizamos vários sistemas experimentais: um sistema usual, um sistema de alta resolução, e um sistema de micro-Raman. Pelo lado teórico, nós aplicamos o modelo da cadeia linear unidimensional, com interação de até segundos vizinhos, e usamos o modelo bond-polarizability para simular os espectros Raman. Uma análise fenomenológica nos permitiu verificar a presença de rugosidade de larga escala (terraços) nas interfaces de nossas amostras. Medidas de espalhamento Raman ressonante também foram feitas para os fônons ópticos de nossas microestruturas. Uma análise quantitativa da seção de choque Raman do pico originado nas vibrações confinadas Ge-Ge, permitiu-nos acompanhar as transições ópticas dos éxcitons confinados em cada terraço. Esta análise favorece nossas interpretações anteriores a respeito desta transição, que a relaciona a transições do tipo E1 do Ge bulkAbstract: We have used Raman spectroscopy to study the lattice dynamics of Ge/Si semiconductor heterostructures, both experimentally and theoretically. The study was performed in a broad spectral range (from 2 cm-1 up to 600 cm-1), which includes the acoustical folded phonons, interfaces phonons, and confined optical phonons. We have used several experimental systems: a standard, a high resolution, and a micro-Raman setup. Theoretically, we have applied a one-dimensional linear-chain model with second-neighbor interactions to obtain the vibrational modes and a bond-polarizability model to simulate the Raman spectra. A phenomenological analysis allows us to verify the presence of large scale roughness (terraces) in the interfaces of our samples. Resonant Raman measurements were also performed for the optical phonons of our microstructures. Quantitative analysis of the resonant-Raman cross-section of the peak originating in Ge-Ge confined vibrations allows us to single out optical transitions of excitons confined within each terrace. This analysis favours our previous interpretation of this transition, which relates it to the E1-transitions of bulk GeDoutoradoFísicaDoutor em Ciências[s.n.]Cerdeira, Fernando, 1943-Mendes Filho, JosuéGalzerani, Jose ClaudioSchulz, Peter Alexander BleinrothCésar, Carlos LenzUniversidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Física Gleb WataghinPrograma de Pós-Graduação em FísicaUNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINASSilva, Marcos Antonio Araujo19951995-10-20T00:00:00Zinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisapplication/pdf85 p. : il.https://hdl.handle.net/20.500.12733/1582914SILVA, Marcos Antonio Araujo. Espalhamento Raman em heteroestruturas semicondutoras de Si/Ge. 1995. 85 p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1582914. Acesso em: 27 fev. 2025.https://repositorio.unicamp.br/acervo/detalhe/97339porreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instname:Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instacron:UNICAMPinfo:eu-repo/semantics/openAccess2019-06-04T07:55:40Zoai::97339Biblioteca Digital de Teses e DissertaçõesPUBhttp://repositorio.unicamp.br/oai/tese/oai.aspsbubd@unicamp.bropendoar:2019-06-04T07:55:40Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)false
dc.title.none.fl_str_mv Espalhamento Raman em heteroestruturas semicondutoras de Si/Ge
title Espalhamento Raman em heteroestruturas semicondutoras de Si/Ge
spellingShingle Espalhamento Raman em heteroestruturas semicondutoras de Si/Ge
Silva, Marcos Antonio Araujo
Semicondutores
Germânio
Silício
title_short Espalhamento Raman em heteroestruturas semicondutoras de Si/Ge
title_full Espalhamento Raman em heteroestruturas semicondutoras de Si/Ge
title_fullStr Espalhamento Raman em heteroestruturas semicondutoras de Si/Ge
title_full_unstemmed Espalhamento Raman em heteroestruturas semicondutoras de Si/Ge
title_sort Espalhamento Raman em heteroestruturas semicondutoras de Si/Ge
author Silva, Marcos Antonio Araujo
author_facet Silva, Marcos Antonio Araujo
author_role author
dc.contributor.none.fl_str_mv Cerdeira, Fernando, 1943-
Mendes Filho, Josué
Galzerani, Jose Claudio
Schulz, Peter Alexander Bleinroth
César, Carlos Lenz
Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Física Gleb Wataghin
Programa de Pós-Graduação em Física
UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
dc.contributor.author.fl_str_mv Silva, Marcos Antonio Araujo
dc.subject.por.fl_str_mv Semicondutores
Germânio
Silício
topic Semicondutores
Germânio
Silício
description Orientador: Fernando Cerdeira
publishDate 1995
dc.date.none.fl_str_mv 1995
1995-10-20T00:00:00Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
format doctoralThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv https://hdl.handle.net/20.500.12733/1582914
SILVA, Marcos Antonio Araujo. Espalhamento Raman em heteroestruturas semicondutoras de Si/Ge. 1995. 85 p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1582914. Acesso em: 27 fev. 2025.
url https://hdl.handle.net/20.500.12733/1582914
identifier_str_mv SILVA, Marcos Antonio Araujo. Espalhamento Raman em heteroestruturas semicondutoras de Si/Ge. 1995. 85 p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1582914. Acesso em: 27 fev. 2025.
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.relation.none.fl_str_mv https://repositorio.unicamp.br/acervo/detalhe/97339
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
85 p. : il.
dc.publisher.none.fl_str_mv [s.n.]
publisher.none.fl_str_mv [s.n.]
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
instname:Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
instacron:UNICAMP
instname_str Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
instacron_str UNICAMP
institution UNICAMP
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
repository.mail.fl_str_mv sbubd@unicamp.br
_version_ 1829137367041048576