Caracterização estrutural de nanopartículas dos compósitos [ZnO-NiO] utilizando métodos de análise de perfil da linha na difração de raio X - Lopes, Luciano de Pelegrini (2022)
Estudos têm sido realizados envolvendo a produção e caracterização de nanocompósitos de [ZnO-NiO] gerando materiais multifuncionais com aplicação em vários campos, tais como biomedicina, células solares e dispositivos optoeletrônicos. Baseado nesse cenário, o objetivo deste trabalho foi investigar a evolução estrutural das nanopartículas dos compósitos [ZnO NiO], envolvendo a difração de raios X através da análise de perfil de linha (APL) para determinar os parâmetros estruturais de tamanhos de domínios cristalinos e microdeformações. Sistemas puros de ZnO e NiO foram preparados pelo método sol-gel proteico utilizando o nitrato e cloreto como fontes do NiO, respectivamente. Os compósitos [ZnO-NiO] foram produzidos em quatro sistemas utilizando as duas fontes de NiO nas concentrações de 1% e 10%, onde todos os sistemas foram preparados na temperatura fixa de 550°C nos tempos de 2, 3, 4, 5 e 6h. A APL obteve os parâmetros estruturais dos sistemas através da aplicação dos métodos de Scherrer, Scherrer modificado e Williamson-Hall, onde também demonstrou a importância da correção instrumental das medidas de difração. A evolução dos tamanhos de domínios cristalinos em função desses tempos de tratamento térmico apresentou padrões semelhantes, sendo a fonte precursora do NiO o parâmetro mais relevante nas dimensões dos tamanhos de domínios cristalinos. Os resultados indicaram a presença de deformação homogênea em função do deslocamento dos picos nestes compósitos. Os sistemas [ZnO-NiO-nitrato] apresentaram resultados de tamanhos de domínios cristalinos e microdeformações coerentes entre os métodos, ao contrário dos compósitos