Fabricação de dispositivos com contato túnel para spintrônica em grafeno

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2014
Autor(a) principal: Canto, B.
Orientador(a): Schmidt, Joao Edgar
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Tese
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/111873
Resumo: Neste trabalho é apresentado em detalhe a fabricação de dispositivos com contato túnel em grafeno, com foco nas caracterizações físico-químicas de barreiras túnel de Al2O3, crescidas sobre grafeno. Uma investigação detalhada das interfaces Co/Al2O3/grafeno é apresentada. Técnicas de caracterização tais como Raman, AFM, HRTEM, STEM, EDX, EELS são utilizadas, assim como processos de nanofabricação de dispositivos via litografia por feixe de elétrons. Os resultados mostram o crescimento de barreira via nucleação de clusters tipo Volmer-Weber e a existência de contatos Co/grafeno via pinholes através da barreira. A fabricação de barreiras finas com espessura nominal de 1 nm resulta no recobrimento parcial do grafeno por camadas com espessura atingindo cerca de 4 nm. A espessura mínima de barreira para a cobertura total da superfície do grafeno é alcançada através da deposição nominal de uma camada de Al2O3 de 3 nm. A caracterização elétrica dos contatos apresenta um caráter assimétrico, semelhante a um diodo túnel, sendo resultante de componentes de contato túnel, associadas a possível formação de cargas e, também, condução via pinholes, assim como efeitos da geometria dos contatos.
id URGS_74160a8b7e3242c3fb1a365f82cbe1ad
oai_identifier_str oai:www.lume.ufrgs.br:10183/111873
network_acronym_str URGS
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
repository_id_str
spelling Canto, B.Schmidt, Joao EdgarBaptista, Daniel Lorscheitter2015-03-11T02:01:15Z2014http://hdl.handle.net/10183/111873000953224Neste trabalho é apresentado em detalhe a fabricação de dispositivos com contato túnel em grafeno, com foco nas caracterizações físico-químicas de barreiras túnel de Al2O3, crescidas sobre grafeno. Uma investigação detalhada das interfaces Co/Al2O3/grafeno é apresentada. Técnicas de caracterização tais como Raman, AFM, HRTEM, STEM, EDX, EELS são utilizadas, assim como processos de nanofabricação de dispositivos via litografia por feixe de elétrons. Os resultados mostram o crescimento de barreira via nucleação de clusters tipo Volmer-Weber e a existência de contatos Co/grafeno via pinholes através da barreira. A fabricação de barreiras finas com espessura nominal de 1 nm resulta no recobrimento parcial do grafeno por camadas com espessura atingindo cerca de 4 nm. A espessura mínima de barreira para a cobertura total da superfície do grafeno é alcançada através da deposição nominal de uma camada de Al2O3 de 3 nm. A caracterização elétrica dos contatos apresenta um caráter assimétrico, semelhante a um diodo túnel, sendo resultante de componentes de contato túnel, associadas a possível formação de cargas e, também, condução via pinholes, assim como efeitos da geometria dos contatos.In this work, we report the devices constructions and a detailed investigation of the structural and chemical characteristics of thin evaporated Al2O3 tunnel barriers of variable thickness grown onto single-layer graphene sheets. Advanced electron microscopy (HRTEM, STEM) and spectrum-imaging techniques were used to investigate the Co/Al2O3/graphene/SiO2 interfaces. Direct observation of pinhole contacts was achieved using FIB cross-sectional lamellas. Spatially resolved EDX spectrum profiles confirmed the presence of direct point contacts between the Co layer and the graphene. The chemical nature of the Al2O3 barriers was also analyzed using electron energy loss spectroscopy (EELS). On the whole, the high surface diffusion properties of graphene led to Volmer-Weber-like Al2O3 film growth, limiting the minimal possible thickness for complete barrier coverage onto graphene surfaces using standard Al evaporation methods. The results indicate a minimum thickness of nominally 3 nm Al2O3, resulting in a 0.6 nm rms rough film with a maximum thickness reaching 5 nm. The electrical characterization of the device contacts seems to be a resultant of tunneling contact behavior associated to charge trapping,pinhole contacts and geometry of the contacts.application/pdfporMagnetorresistênciaSpinNanofabricaçãoMicroscopia eletrônicaLitografia por feixe de elétronsGrafenoGrafiteFabricação de dispositivos com contato túnel para spintrônica em grafenoinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de FísicaPrograma de Pós-Graduação em FísicaPorto Alegre, BR-RS2014doutoradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL000953224.pdf000953224.pdfTexto completoapplication/pdf6719861http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/111873/1/000953224.pdfbc215518d23aba5ac17ef8603e095831MD51TEXT000953224.pdf.txt000953224.pdf.txtExtracted Texttext/plain272772http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/111873/2/000953224.pdf.txt73bd2eb4ca883377dacde75200735022MD52THUMBNAIL000953224.pdf.jpg000953224.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1016http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/111873/3/000953224.pdf.jpgf399b5aef25e2e732ecbf638bb2d1939MD5310183/1118732018-10-05 08:23:15.771oai:www.lume.ufrgs.br:10183/111873Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532018-10-05T11:23:15Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
dc.title.pt_BR.fl_str_mv Fabricação de dispositivos com contato túnel para spintrônica em grafeno
title Fabricação de dispositivos com contato túnel para spintrônica em grafeno
spellingShingle Fabricação de dispositivos com contato túnel para spintrônica em grafeno
Canto, B.
Magnetorresistência
Spin
Nanofabricação
Microscopia eletrônica
Litografia por feixe de elétrons
Grafeno
Grafite
title_short Fabricação de dispositivos com contato túnel para spintrônica em grafeno
title_full Fabricação de dispositivos com contato túnel para spintrônica em grafeno
title_fullStr Fabricação de dispositivos com contato túnel para spintrônica em grafeno
title_full_unstemmed Fabricação de dispositivos com contato túnel para spintrônica em grafeno
title_sort Fabricação de dispositivos com contato túnel para spintrônica em grafeno
author Canto, B.
author_facet Canto, B.
author_role author
dc.contributor.author.fl_str_mv Canto, B.
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Schmidt, Joao Edgar
dc.contributor.advisor-co1.fl_str_mv Baptista, Daniel Lorscheitter
contributor_str_mv Schmidt, Joao Edgar
Baptista, Daniel Lorscheitter
dc.subject.por.fl_str_mv Magnetorresistência
Spin
Nanofabricação
Microscopia eletrônica
Litografia por feixe de elétrons
Grafeno
Grafite
topic Magnetorresistência
Spin
Nanofabricação
Microscopia eletrônica
Litografia por feixe de elétrons
Grafeno
Grafite
description Neste trabalho é apresentado em detalhe a fabricação de dispositivos com contato túnel em grafeno, com foco nas caracterizações físico-químicas de barreiras túnel de Al2O3, crescidas sobre grafeno. Uma investigação detalhada das interfaces Co/Al2O3/grafeno é apresentada. Técnicas de caracterização tais como Raman, AFM, HRTEM, STEM, EDX, EELS são utilizadas, assim como processos de nanofabricação de dispositivos via litografia por feixe de elétrons. Os resultados mostram o crescimento de barreira via nucleação de clusters tipo Volmer-Weber e a existência de contatos Co/grafeno via pinholes através da barreira. A fabricação de barreiras finas com espessura nominal de 1 nm resulta no recobrimento parcial do grafeno por camadas com espessura atingindo cerca de 4 nm. A espessura mínima de barreira para a cobertura total da superfície do grafeno é alcançada através da deposição nominal de uma camada de Al2O3 de 3 nm. A caracterização elétrica dos contatos apresenta um caráter assimétrico, semelhante a um diodo túnel, sendo resultante de componentes de contato túnel, associadas a possível formação de cargas e, também, condução via pinholes, assim como efeitos da geometria dos contatos.
publishDate 2014
dc.date.issued.fl_str_mv 2014
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2015-03-11T02:01:15Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
format doctoralThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/10183/111873
dc.identifier.nrb.pt_BR.fl_str_mv 000953224
url http://hdl.handle.net/10183/111873
identifier_str_mv 000953224
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
instname_str Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron_str UFRGS
institution UFRGS
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
bitstream.url.fl_str_mv http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/111873/1/000953224.pdf
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/111873/2/000953224.pdf.txt
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/111873/3/000953224.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv bc215518d23aba5ac17ef8603e095831
73bd2eb4ca883377dacde75200735022
f399b5aef25e2e732ecbf638bb2d1939
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
repository.mail.fl_str_mv lume@ufrgs.br||lume@ufrgs.br
_version_ 1816737285848170496