Gestão de riscos no mercado financeiro internacional: uma análise comparativa entre modelos de volatilidade para estimação do Value-at-Risk - Gaio, Luiz Eduardo (2009)
Durante os últimos anos, tem havido muitas mudanças na maneira como as instituições financeiras avaliam o risco. As regulações têm tido um papel muito importante no desenvolvimento das técnicas de medição do risco. Diante das diversidades de técnicas de estimação e análise de risco utilizadas pelas bolsas de valores e de futuros, nacionais e internacionais, bem como as Clearings de controle de risco, este estudo propôs uma análise comparativo de modelos de volatilidade para o cálculo do Value-at-Risk (VaR) aplicados aos principais índices de ações do mercado financeiro internacional. Utilizouse os modelos de volatilidade condicional da família ARCH levando em consideração a presença de longa dependência em seus retornos (memória longa) e assimetria na volatilidade. Em específico, utilizaram-se os modelos GARCH, EGARCH, APARCH, FIGARCH, FIEGARCH, FIAPARCH e HYGARCH estimados a parir de quatro diferentes distribuições, Normal, t-Student, G.E.D. e t-Student Assimétrica. Analisaramse os índices dos principais mercados de ações do mundo, sendo: Dow Jones, S&P 500, Nasdaq, Ibovespa, FTSE e Nikkei 225. Testou-se também a capacidade preditiva do modelo Riskmetrics desenvolvido pelo J.P. Morgan para o calculo do VaR, comparado com os modelos de volatilidade. Os resultados obtidos sugerem que o pacote desenvolvido pelo J.P.Morgan não se aplica adequadamente à realidade do mercado acionário mundial, como ferramenta de gestão e controle do risco das oscilações dos preços das ações de empresas negociadas nas bolsas de Nova Iorque, Nasdaq, BM&FBOVESPA, bolsa de Londres e bolsa de Tóquio. Os modelos que consideram o efeito de memória longa na volatilidade condicional dos retornos dos índices, em especial o modelo FIAPARCH (1,d,1), foram os que obtiveram melhor ajuste e desempenho preditivo do risco de mercado (Value-at-Risk), conforme valores apresentados pelo teste de razão de falha proposto por Kupiec (1995).