Silva, M. d. A. P. d. (2001). Análise de superfícies de filmes finos de polianilina depositados em diferentes substratos por microscopia de força atômica.
Referência de acordo com a norma ChicagoSilva, Marcelo de Assumpção Pereira da. Análise De Superfícies De Filmes Finos De Polianilina Depositados Em Diferentes Substratos Por Microscopia De Força Atômica. 2001.
Referência de acordo com a norma MLASilva, Marcelo de Assumpção Pereira da. Análise De Superfícies De Filmes Finos De Polianilina Depositados Em Diferentes Substratos Por Microscopia De Força Atômica. 2001.
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