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Aguiar, Ygor Quadros de
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Reis, Ricardo Augusto da Luz
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1
Radiation robustness of XOR and majority voter circuits at finFET technology under variability
Por
Aguiar, Ygor Quadros de
Publicado em 2017
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Dissertação
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Instituição de defesa
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
1
Bases coletadas
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
1
Autor
Aguiar, Ygor Quadros de
Orientador(a)
Reis, Ricardo Augusto da Luz
Tipo de documento
Dissertação
1
Tipo de acesso
openAccess
Idioma
Inglês
1
Assunto
Circuitos digitais
1
Microeletrônica
1
Assunto em inglês
Fault Tolerance
1
FinFET
1
Microelectronics
1
Radiation Effects
1
Variability
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