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Autor:
Zimpeck, Alexandra Lackmann
Orientador(a):
Reis, Ricardo Augusto da Luz
Tipo de acesso:
openAccess
Outro:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
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Autor:
Zimpeck, Alexandra Lackmann
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1
Circuit-level approaches to mitigate the process variability and soft errors in finFET logic cells
Por
Zimpeck, Alexandra Lackmann
Publicado em 2019
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Tese
2
Timing vulnerability factor analysis in master-slave D flip-flops
Por
Zimpeck, Alexandra Lackmann
Publicado em 2016
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Dissertação
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Instituição de defesa
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
2
Bases coletadas
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
2
Autor
Zimpeck, Alexandra Lackmann
Orientador(a)
Reis, Ricardo Augusto da Luz
Tipo de documento
Tese
1
Dissertação
1
Tipo de acesso
openAccess
Idioma
Inglês
2
Assunto
Microeletrônica
2
Circuitos digitais
1
Tolerancia : Falhas
1
Assunto em inglês
Environmental variability
1
FinFET
1
Microelectronics
1
Soft errors
1
Timing vulnerability factor
1
Window of vulnerability
1
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circuit-level design
1
process variability
1
reliability
1
soft error
1
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