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Orientador(a):
Machado, Rogério
Programa de Pós-Graduação:
Pós-Graduação em Física
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1
Caracterização de filmes finos por reflectometria de raios x
Por
Silva, Adicleison Véla da
Publicado em 2013
Acessar documento
Dissertação
2
Estudo do método de parâmetros fundamentais em fluorescência de raios X
Por
Silva, George Kummel Soares Figueiredo Castro
Publicado em 2012
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Instituição de defesa
Universidade Federal de Sergipe (UFS)
2
Bases coletadas
Repositório Institucional da UFS
2
Programa de Pós-Graduação
Pós-Graduação em Física
Autor
Silva, Adicleison Véla da
1
Silva, George Kummel Soares Figueiredo Castro
1
Orientador(a)
Machado, Rogério
Tipo de documento
Dissertação
2
Tipo de acesso
openAccess
2
Idioma
Português
2
Assunto
Difração
1
Filmes finos
1
Fluorescência
1
Física
1
Matéria - Raios X
1
Parâmetros fundamentais
1
Mais ...
Raios X
1
Ver todos ...
menos ...
Assunto em inglês
Matter
1
Thin films
1
X-rays
1
Área do conhecimento CNPq
FISICA
1
FISICA
1
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