Portal do Governo Brasileiro
s
Mostrando
1 - 5
resultados de
5
para a busca '
'
Pular para o conteúdo
Institucional
Sobre
Como participar
Diretrizes
Indicadores
Rede
Instituições participantes
Tecnologia
Faq
Contato
A sua conta
Sair
Entrar
Todos os campos
Título
Ano da publicação
Autor
Assunto
Resumo
Buscar
Busca avançada
Orientador(a):
Reis, Ricardo Augusto da Luz
Assunto em inglês:
Fault tolerance
Tipo de acesso:
openAccess
Outro:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Mostrar filtros (4)
Orientador(a):
Reis, Ricardo Augusto da Luz
Assunto em inglês:
Fault tolerance
Tipo de acesso:
openAccess
Outro:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Resultados da busca
Mostrando
1 - 5
resultados de
5
para a busca '
'
, tempo de busca: 0,02s
Ordenar:
Relevância
Data descendente
Data ascendente
Área
Autor
Título
Exportar
Exportar RIS
Exportar CSV
1
Frame-level redundancy scrubbing technique for SRAM-based FPGAs
Por
Seclen, Jorge Lucio Tonfat
Publicado em 2015
Acessar documento
Tese
2
Designing single event upset mitigation techniques for large SRAM-Based FPGA components
Por
Kastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima
Publicado em 2003
Acessar documento
Tese
3
Analysis of transistor sizing and folding effectiveness to mitigate soft errors
Por
Assis, Thiago Rocha de
Publicado em 2009
Acessar documento
Dissertação
4
An automated framework for early Soft error assessment, identification, and mitigation
Por
Gava, Jonas Fogliarini
Publicado em 2021
Acessar documento
Dissertação
5
Avaliação de atraso, consumo e proteção de somadores tolerantes a falhas
Por
Franck, Helen de Souza
Publicado em 2011
Acessar documento
Dissertação
Voltar
Refinar a Busca
Instituição de defesa
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
5
Bases coletadas
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
5
Autor
Assis, Thiago Rocha de
1
Franck, Helen de Souza
1
Gava, Jonas Fogliarini
1
Kastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima
1
Seclen, Jorge Lucio Tonfat
1
Orientador(a)
Reis, Ricardo Augusto da Luz
Tipo de documento
Dissertação
3
Tese
2
Tipo de acesso
openAccess
Idioma
Inglês
4
Português
1
Assunto
Microeletrônica
5
Tolerancia : Falhas
4
Fpga
2
Circuitos digitais
1
Cmos
1
Deteccao : Erros
1
Assunto em inglês
Fault tolerance
Fault injection
2
Microelectronics
2
Reliability
2
Soft errors
2
Adder architectures
1
Mais ...
Binary-signed digit number system
1
Folding
1
Memory scrubbing
1
Radiation effects
1
SET (single-event transient)
1
SRAM-based FPGA
1
Single event effect
1
Single event upset
1
Single event upsets
1
Soft error
1
Time and hardware redundancy
1
Transistor sizing
1
Virtual Platforms
1
Ver todos ...
menos ...
Ano da publicação
De:
Até:
Carregando...