Desenvolvimento de ferramenta para cálculo da confiabilidade de circuitos combinacionais utilizando o método PTM

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2017
Autor(a) principal: Fritz, Rafaél Ígor
Orientador(a): Franco, Denis Teixeira, Butzen, Paulo Francisco
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Confiabilidade
Circuitos combinacionais
Método PTM
Reliability
Combinational circuits
PTM method
Link de acesso: http://repositorio.furg.br/handle/1/9998
Resumo: A evolucão dos sistemas computacionais embarcados tem tornado os chips mais complexos e com elevado n´umero de funcionalidades em um mesmo circuito integrado (CI). Em contrapartida, o custo final de mercado tem diminu´do significativamente em relação à maior complexidade do CI. À medida que as dimensões e as tensões de operação da microeletrônica de computadores são reduzidas para satisfazer a demanda insaciável do consumidor, a sensibilidade à radiação desses circuitos aumentam. As partículas ionizantes, ao incidirem em uma região sensível de um semicondutor, como as áreas ativas dos transistores, podem causar um pulso transiente, que, por sua vez, pode alterar o estado lógico do circuito. O desenvolvimento da indústria de semicondutores possibilitou o desenvolvimento de sistemas eletrônicos complexos. Hoje em dia, sistemas como satélites e sistemas aviônicos requerem alto grau de confiabilidade. Com a existência de sistemas que necessitam de um alto grau de confiabilidade, faz-se necessário ferramentas de projeto que possibilitem determinar a confiabilidade dos circuitos. Nesse trabalho, foi implementado o método de Matriz de Transferência Probabilística (PTM), que possibilita determinar a confiabilidade de circuitos. A ferramenta desenvolvida possibilitou a realização do cálculo da confiabilidade de circuitos lógicos combinacionais a partir da leitura do arquivo de descrição de hardware (Netlist) de um circuito.
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spelling Fritz, Rafaél ÍgorFranco, Denis TeixeiraButzen, Paulo Francisco2021-12-20T12:15:10Z2021-12-20T12:15:10Z2017FRITZ, Rafaél Ígor. Desenvolvimento de ferramenta para cálculo da confiabilidade de circuitos combinacionais utilizando o método PTM. 2017. 67 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia da Computação) – Centro de Ciências Computacionais, Universidade Federal do Rio Grande, Rio Grande, 2017.http://repositorio.furg.br/handle/1/9998A evolucão dos sistemas computacionais embarcados tem tornado os chips mais complexos e com elevado n´umero de funcionalidades em um mesmo circuito integrado (CI). Em contrapartida, o custo final de mercado tem diminu´do significativamente em relação à maior complexidade do CI. À medida que as dimensões e as tensões de operação da microeletrônica de computadores são reduzidas para satisfazer a demanda insaciável do consumidor, a sensibilidade à radiação desses circuitos aumentam. As partículas ionizantes, ao incidirem em uma região sensível de um semicondutor, como as áreas ativas dos transistores, podem causar um pulso transiente, que, por sua vez, pode alterar o estado lógico do circuito. O desenvolvimento da indústria de semicondutores possibilitou o desenvolvimento de sistemas eletrônicos complexos. Hoje em dia, sistemas como satélites e sistemas aviônicos requerem alto grau de confiabilidade. Com a existência de sistemas que necessitam de um alto grau de confiabilidade, faz-se necessário ferramentas de projeto que possibilitem determinar a confiabilidade dos circuitos. Nesse trabalho, foi implementado o método de Matriz de Transferência Probabilística (PTM), que possibilita determinar a confiabilidade de circuitos. A ferramenta desenvolvida possibilitou a realização do cálculo da confiabilidade de circuitos lógicos combinacionais a partir da leitura do arquivo de descrição de hardware (Netlist) de um circuito.The evolution of embedded computing systems has made the chips more complex and with a high number of functionalities in the same integrated circuit (IC). In contrast, the final market cost has decreased significantly in relation to the increased IC complexity. As the dimensions and operating voltages of computer electronics are reduced to satisfy insatiable consumer demand, the radiation sensitivity of such circuits increase. The ionizing particles, when they occur in a sensitive region of a semiconductor, as the active areas of transistors, can cause a transient pulse, which, in turn, can change the logical state of the circuit. The development of the semiconductor industry has enabled the development of complex electronic systems. Nowadays, systems such as satellites and avionics systems require a high degree of reliability. With the existence of systems that require a high degree of reliability, theres a need for design tools that allow to determine the reliability of the circuits. In this work, the Probabilistic Transfer Matrix (PTM) method was implemented, which makes possible to determine the circuit reliability. The developed tool made possible to perform the computation of the reliability of combinational logic circuits from the reading of the hardware description file (Netlist) of a circuit.porConfiabilidadeCircuitos combinacionaisMétodo PTMReliabilityCombinational circuitsPTM methodDesenvolvimento de ferramenta para cálculo da confiabilidade de circuitos combinacionais utilizando o método PTMTool Development to Calculate the Reliability of Combinational Circuits Using the PTM Methodinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da FURG (RI FURG)instname:Universidade Federal do Rio Grande (FURG)instacron:FURGORIGINAL0000011892.pdf0000011892.pdfapplication/pdf1990181https://repositorio.furg.br/bitstream/1/9998/1/0000011892.pdfb288772200ae1022bd457104f9b121c7MD51open accessLICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-81748https://repositorio.furg.br/bitstream/1/9998/2/license.txt8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33MD52open access1/99982021-12-20 09:15:11.102open accessoai:repositorio.furg.br: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Repositório InstitucionalPUBhttps://repositorio.furg.br/oai/request || http://200.19.254.174/oai/requestopendoar:2021-12-20T12:15:11Repositório Institucional da FURG (RI FURG) - Universidade Federal do Rio Grande (FURG)false
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