Comportamento crítico de filmes Ising S=1 em estruturas cúbicas simples

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2008
Autor(a) principal: da Silva Araújo Costa, Lidiane
Orientador(a): George Brady Moreira, Francisco
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Universidade Federal de Pernambuco
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: https://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/6325
Resumo: Usamos simulações Monte Carlo e teoria de escala de tamanho finito para estudar o comportamento magnético de filmes finos, em função da espessura LZ dos filmes. Consideramos sistemas de spin S = 1, com interações entre primeiros vizinhos em estruturas cúbicas simples na geometria de filmes, L×L×LZ, com condições de contorno periódicas ao longo do plano do filme e abertas na direção perpendicular ao filme. Obtivemos a energia, a magnetização, a susceptibilidade e o calor específico em função da temperatura, para diversos valores de L e espessura LZ no intervalo [1 : 20]. Para estudar o comportamento do sistema na região crítica, são geradas longas séries de dados para um conjunto de valores da temperatura e, através da técnica de histogramas múltiplos, são obtidas as grandezas relevantes em uma faixa contíua de temperaturas. Em particular obtivemos a dependência da temperatura crítica TC(LZ) e dos expoentes críticos, com a espessura do filme. Concluímos que TC(LZ) se aproxima do valor da temperatura crítica do sistema volumétrico (3D), segundo uma lei de potência com expoente l = 1.40(3). Quanto aos expoentes críticos b , g e n não observamos o crossover de 2D para 3D, e os valores obtidos são compatíveis com os expoentes exatos do sistema bidimensional (2D)
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Obtivemos a energia, a magnetização, a susceptibilidade e o calor específico em função da temperatura, para diversos valores de L e espessura LZ no intervalo [1 : 20]. Para estudar o comportamento do sistema na região crítica, são geradas longas séries de dados para um conjunto de valores da temperatura e, através da técnica de histogramas múltiplos, são obtidas as grandezas relevantes em uma faixa contíua de temperaturas. Em particular obtivemos a dependência da temperatura crítica TC(LZ) e dos expoentes críticos, com a espessura do filme. Concluímos que TC(LZ) se aproxima do valor da temperatura crítica do sistema volumétrico (3D), segundo uma lei de potência com expoente l = 1.40(3). 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