Estudo da transição cristalográfica em filme fino de VO2 por difração de raios-x
Ano de defesa: | 2011 |
---|---|
Autor(a) principal: | |
Orientador(a): | |
Banca de defesa: | |
Tipo de documento: | Dissertação |
Tipo de acesso: | Acesso aberto |
Idioma: | por |
Instituição de defesa: |
Universidade Federal de Santa Maria
|
Programa de Pós-Graduação: |
Programa de Pós-Graduação em Física
|
Departamento: |
Física
|
País: |
BR
|
Palavras-chave em Português: | |
Palavras-chave em Inglês: | |
Área do conhecimento CNPq: | |
Link de acesso: | http://repositorio.ufsm.br/handle/1/9216 |
Resumo: | In one sample, X-Ray diffractions have been measured as a function of the temperature, in order to follow the crystallographic transition experienced by VO2 near 68ºC. The results have been analysed with the aide of a software based in the Rietveld structure refinement method. Below the critical temperature, the material is in a monoclinic M1 phase, with the V-V dimers parallel to the substrate. Near transition temperature, is has been identified a coexistence of the M1 and R phases, separated by a M2 region. The coexistence occurs inside individual grains. In contrast with the M1 and R phases, frequently identified in the VO2 transition, this is the first time the M2 phase is reported in < 011 > textured polycrystalline films of VO2 deposited by magnetron sputtering. A comparison between the M1 and R peaks width, at room temperature and (95ºC) respectively, shows the M1 phase is under inhomogeneous stress. Although in average those stresses are tensile, an important fraction of the sample is under compressive stress, what could explain the presence of the M2 phase. |
id |
UFSM-20_5114ee401cc76ebad0627e05146c44c1 |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:repositorio.ufsm.br:1/9216 |
network_acronym_str |
UFSM-20 |
network_name_str |
Manancial - Repositório Digital da UFSM |
repository_id_str |
|
spelling |
2017-05-102017-05-102011-03-28ESCOBAR, Vivian Montardo. Study of the crystallographyc transition in thin films of VO2 by x-ray diffraction. 2011. 85 f. Dissertação (Mestrado em Física) - Universidade Federal de Santa Maria, Santa Maria, 2011.http://repositorio.ufsm.br/handle/1/9216In one sample, X-Ray diffractions have been measured as a function of the temperature, in order to follow the crystallographic transition experienced by VO2 near 68ºC. The results have been analysed with the aide of a software based in the Rietveld structure refinement method. Below the critical temperature, the material is in a monoclinic M1 phase, with the V-V dimers parallel to the substrate. Near transition temperature, is has been identified a coexistence of the M1 and R phases, separated by a M2 region. The coexistence occurs inside individual grains. In contrast with the M1 and R phases, frequently identified in the VO2 transition, this is the first time the M2 phase is reported in < 011 > textured polycrystalline films of VO2 deposited by magnetron sputtering. A comparison between the M1 and R peaks width, at room temperature and (95ºC) respectively, shows the M1 phase is under inhomogeneous stress. Although in average those stresses are tensile, an important fraction of the sample is under compressive stress, what could explain the presence of the M2 phase.Características estruturais e morfológicas de filmes de óxido de vanádio depositados pela técnica de magnetron sputtering reativo foram determinadas por difração de RX. Os filmes estudados, isentos de qualquer contaminação com outras estequiometrias, são constituídos de grãos relativamente grandes e estão fortemente texturizados com a direção < 011 > praticamente perpendicular ao substrato. Em uma amostra foram extraídos difratogramas em função da temperatura para acompanhar a transição cristalográfica que o VO2 sofre próximo a temperatura de 68ºC. Os resultados obtidos para as diferentes temperaturas foram analizados com o auxílio de um software baseado no método Rietveld de refinamento de estruturas. Para temperaturas abaixo da temperatura crítica para a transição, o material apresentou-se na fase monoclínica M1 com os dímeros de vanádio alinhados paralelos ao substrato. Na faixa de temperaturas que compreende a transição, há uma coexistência das fases M1 e R separadas por uma monoclínica M2. Esta coexistência ocorre dentro de grãos individuais da amostra. Ao contrário das fases M1 e R, que normalmente são identificadas na transição do VO2, esta é a primeira vez em que a fase M2 é observada em filmes finos policristalinos depositados por sputtering com textura < 011 >. A comparação entre as larguras dos picos da fase M1 (temperatura ambiente) e da fase rutila R (95ºC) mostra que a fase M1 está sujeita a estresses não homogêneos. Embora na média esse estresse seja tênsil, uma parte apreciável dos cristais se mostra sob estresse compressivo, parte esta que explica o surgimento da fase M2.Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superiorapplication/pdfporUniversidade Federal de Santa MariaPrograma de Pós-Graduação em FísicaUFSMBRFísicaDifração de raios-XVO2Filmes finosX-ray diffractionVO2Thin filmsCNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICAEstudo da transição cristalográfica em filme fino de VO2 por difração de raios-xStudy of the crystallographyc transition in thin films of VO2 by x-ray diffractioninfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisSchelp, Luiz Fernandohttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4782843Y8Giacomelli, Cristianohttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4762951A6http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4290342D2Escobar, Vivian Montardo100500000006400500300500bf7e2825-6ccb-40bd-9835-c0f169db2f6270dadf81-284a-483e-83d2-a50473d8fe4676f4b1a0-03ef-48e6-88aa-6c682d7ea2f4info:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Manancial - Repositório Digital da UFSMinstname:Universidade Federal de Santa Maria (UFSM)instacron:UFSMORIGINALESCOBAR, VIVIAN MONTARDO.pdfapplication/pdf6235229http://repositorio.ufsm.br/bitstream/1/9216/1/ESCOBAR%2c%20VIVIAN%20MONTARDO.pdfebb5925e375c5197e5330594fdbf8b37MD51TEXTESCOBAR, VIVIAN MONTARDO.pdf.txtESCOBAR, VIVIAN MONTARDO.pdf.txtExtracted texttext/plain125000http://repositorio.ufsm.br/bitstream/1/9216/2/ESCOBAR%2c%20VIVIAN%20MONTARDO.pdf.txt7df78965c0bb46129fccca5b12629bfaMD52THUMBNAILESCOBAR, VIVIAN MONTARDO.pdf.jpgESCOBAR, VIVIAN MONTARDO.pdf.jpgIM Thumbnailimage/jpeg4861http://repositorio.ufsm.br/bitstream/1/9216/3/ESCOBAR%2c%20VIVIAN%20MONTARDO.pdf.jpg934e2d479a1decde1aab212ad9486cf5MD531/92162017-07-25 11:52:23.662oai:repositorio.ufsm.br:1/9216Repositório Institucionalhttp://repositorio.ufsm.br/PUBhttp://repositorio.ufsm.br/oai/requestopendoar:39132017-07-25T14:52:23Manancial - Repositório Digital da UFSM - Universidade Federal de Santa Maria (UFSM)false |
dc.title.por.fl_str_mv |
Estudo da transição cristalográfica em filme fino de VO2 por difração de raios-x |
dc.title.alternative.eng.fl_str_mv |
Study of the crystallographyc transition in thin films of VO2 by x-ray diffraction |
title |
Estudo da transição cristalográfica em filme fino de VO2 por difração de raios-x |
spellingShingle |
Estudo da transição cristalográfica em filme fino de VO2 por difração de raios-x Escobar, Vivian Montardo Difração de raios-X VO2 Filmes finos X-ray diffraction VO2 Thin films CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA |
title_short |
Estudo da transição cristalográfica em filme fino de VO2 por difração de raios-x |
title_full |
Estudo da transição cristalográfica em filme fino de VO2 por difração de raios-x |
title_fullStr |
Estudo da transição cristalográfica em filme fino de VO2 por difração de raios-x |
title_full_unstemmed |
Estudo da transição cristalográfica em filme fino de VO2 por difração de raios-x |
title_sort |
Estudo da transição cristalográfica em filme fino de VO2 por difração de raios-x |
author |
Escobar, Vivian Montardo |
author_facet |
Escobar, Vivian Montardo |
author_role |
author |
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv |
Schelp, Luiz Fernando |
dc.contributor.advisor1Lattes.fl_str_mv |
http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4782843Y8 |
dc.contributor.referee1.fl_str_mv |
Giacomelli, Cristiano |
dc.contributor.referee1Lattes.fl_str_mv |
http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4762951A6 |
dc.contributor.authorLattes.fl_str_mv |
http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4290342D2 |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
Escobar, Vivian Montardo |
contributor_str_mv |
Schelp, Luiz Fernando Giacomelli, Cristiano |
dc.subject.por.fl_str_mv |
Difração de raios-X VO2 Filmes finos |
topic |
Difração de raios-X VO2 Filmes finos X-ray diffraction VO2 Thin films CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA |
dc.subject.eng.fl_str_mv |
X-ray diffraction VO2 Thin films |
dc.subject.cnpq.fl_str_mv |
CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA |
description |
In one sample, X-Ray diffractions have been measured as a function of the temperature, in order to follow the crystallographic transition experienced by VO2 near 68ºC. The results have been analysed with the aide of a software based in the Rietveld structure refinement method. Below the critical temperature, the material is in a monoclinic M1 phase, with the V-V dimers parallel to the substrate. Near transition temperature, is has been identified a coexistence of the M1 and R phases, separated by a M2 region. The coexistence occurs inside individual grains. In contrast with the M1 and R phases, frequently identified in the VO2 transition, this is the first time the M2 phase is reported in < 011 > textured polycrystalline films of VO2 deposited by magnetron sputtering. A comparison between the M1 and R peaks width, at room temperature and (95ºC) respectively, shows the M1 phase is under inhomogeneous stress. Although in average those stresses are tensile, an important fraction of the sample is under compressive stress, what could explain the presence of the M2 phase. |
publishDate |
2011 |
dc.date.issued.fl_str_mv |
2011-03-28 |
dc.date.accessioned.fl_str_mv |
2017-05-10 |
dc.date.available.fl_str_mv |
2017-05-10 |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/masterThesis |
format |
masterThesis |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.citation.fl_str_mv |
ESCOBAR, Vivian Montardo. Study of the crystallographyc transition in thin films of VO2 by x-ray diffraction. 2011. 85 f. Dissertação (Mestrado em Física) - Universidade Federal de Santa Maria, Santa Maria, 2011. |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
http://repositorio.ufsm.br/handle/1/9216 |
identifier_str_mv |
ESCOBAR, Vivian Montardo. Study of the crystallographyc transition in thin films of VO2 by x-ray diffraction. 2011. 85 f. Dissertação (Mestrado em Física) - Universidade Federal de Santa Maria, Santa Maria, 2011. |
url |
http://repositorio.ufsm.br/handle/1/9216 |
dc.language.iso.fl_str_mv |
por |
language |
por |
dc.relation.cnpq.fl_str_mv |
100500000006 |
dc.relation.confidence.fl_str_mv |
400 500 300 500 |
dc.relation.authority.fl_str_mv |
bf7e2825-6ccb-40bd-9835-c0f169db2f62 70dadf81-284a-483e-83d2-a50473d8fe46 76f4b1a0-03ef-48e6-88aa-6c682d7ea2f4 |
dc.rights.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.format.none.fl_str_mv |
application/pdf |
dc.publisher.none.fl_str_mv |
Universidade Federal de Santa Maria |
dc.publisher.program.fl_str_mv |
Programa de Pós-Graduação em Física |
dc.publisher.initials.fl_str_mv |
UFSM |
dc.publisher.country.fl_str_mv |
BR |
dc.publisher.department.fl_str_mv |
Física |
publisher.none.fl_str_mv |
Universidade Federal de Santa Maria |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Manancial - Repositório Digital da UFSM instname:Universidade Federal de Santa Maria (UFSM) instacron:UFSM |
instname_str |
Universidade Federal de Santa Maria (UFSM) |
instacron_str |
UFSM |
institution |
UFSM |
reponame_str |
Manancial - Repositório Digital da UFSM |
collection |
Manancial - Repositório Digital da UFSM |
bitstream.url.fl_str_mv |
http://repositorio.ufsm.br/bitstream/1/9216/1/ESCOBAR%2c%20VIVIAN%20MONTARDO.pdf http://repositorio.ufsm.br/bitstream/1/9216/2/ESCOBAR%2c%20VIVIAN%20MONTARDO.pdf.txt http://repositorio.ufsm.br/bitstream/1/9216/3/ESCOBAR%2c%20VIVIAN%20MONTARDO.pdf.jpg |
bitstream.checksum.fl_str_mv |
ebb5925e375c5197e5330594fdbf8b37 7df78965c0bb46129fccca5b12629bfa 934e2d479a1decde1aab212ad9486cf5 |
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv |
MD5 MD5 MD5 |
repository.name.fl_str_mv |
Manancial - Repositório Digital da UFSM - Universidade Federal de Santa Maria (UFSM) |
repository.mail.fl_str_mv |
|
_version_ |
1794524462681423872 |