Salgado, T. D. M. (1999). Estudo experimental de filmes ultrafinos de oxinitretos de silício por substituição isotópica e perfilometria com resolução subnanométrica.
Referência de acordo com a norma ChicagoSalgado, Tania Denise Miskinis. Estudo Experimental De Filmes Ultrafinos De Oxinitretos De Silício Por Substituição Isotópica E Perfilometria Com Resolução Subnanométrica. 1999.
Referência de acordo com a norma MLASalgado, Tania Denise Miskinis. Estudo Experimental De Filmes Ultrafinos De Oxinitretos De Silício Por Substituição Isotópica E Perfilometria Com Resolução Subnanométrica. 1999.
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