Janotti, A. (1999). Propriedades eletrônicas e estruturais de defeitos em Bulk e superfície de semicondutores.
Referência de acordo com a norma ChicagoJanotti, Anderson. Propriedades Eletrônicas E Estruturais De Defeitos Em Bulk E Superfície De Semicondutores. 1999.
Referência de acordo com a norma MLAJanotti, Anderson. Propriedades Eletrônicas E Estruturais De Defeitos Em Bulk E Superfície De Semicondutores. 1999.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma, para gerenciar as citações recomenda-se a utilização do software Zotero
, que permite o upload automático das referências do Oasisbr.