Estudo comparativo entre tecnologias CMOS, NMOS e SOI em um circuito de APS

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2012
Autor(a) principal: Madeira, Frederico Marion
Orientador(a): Giacomini, R.
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Semicondutores complementares de óxido metálico
Teste de penetração no solo
Link de acesso: https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/440
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