Métricas de testabilidade : controlabilidade e observabilidade em circuitos combinacionais

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2019
Autor(a) principal: Arocha, Artur Freitas
Orientador(a): Butzen, Paulo Francisco
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Engenharia de computação
Circuitos integrados
Método SCOAP
Método CAMELOT
Testes
Testabilidade
Controlabilidade
Observabilidade
Computer engineering
Integrated circuits
SCOAP method
CAMELOT method
Tests
Testability
Controllability
Observability
Link de acesso: http://repositorio.furg.br/handle/1/8094
Resumo: A garantia do desempenho, da acurácia e dos baixos custos na produção em larga escala de circuitos integrados (CI) é influenciada pelo teste, sendo essa uma rotina crucial no processo de desenvolvimento de CIs. As métricas de testabilidade permitem melhorias no projeto de CIs. Durante o estudo das métricas de testabilidade no método SCOAP pelo autor, foi observada a falta de uma metodologia padrão para obtenção das equações para cálculo da controlabilidade e observabilidade para uma função lógica qualquer. Deste modo, este trabalho apresenta uma metodologia para obtenção destas equações para qualquer função lógica. A comparação dos resultados obtidos com os disponíveis na literatura mostrou que os objetivos parciais foram alcançados. Além disso, foi desenvolvido um software para automatizar a obtenção das métricas de testabilidade em circuitos com os métodos CAMELOT e SCOAP. Ambos métodos se mostraram eficazes para apontar topologias de CIs melhor projetadas com foco na testabilidade.
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Deste modo, este trabalho apresenta uma metodologia para obtenção destas equações para qualquer função lógica. A comparação dos resultados obtidos com os disponíveis na literatura mostrou que os objetivos parciais foram alcançados. Além disso, foi desenvolvido um software para automatizar a obtenção das métricas de testabilidade em circuitos com os métodos CAMELOT e SCOAP. Ambos métodos se mostraram eficazes para apontar topologias de CIs melhor projetadas com foco na testabilidade.Ensuring the performance, accuracy and low costs of large-scale production of integrated circuits (IC) is influenced by test, which is a crucial routine in IC developing process. Testability measures allows improvements in IC design. This works author observed the lack of a standard methodology to obtain the equations to calculate the controllability and observability of combinational circuits for any logical function with the SCOAP method. Thus, this work presents a methodology for obtaining these equations for any logical function. The comparison of the results obtained with those available in the literature showed that the objectives were achieved. In addition, a software was developed to automate the generation of testability metrics for ICs with the CAMELOT and SCOAP methods. Both methods shown effective for pointing out better designed IC topologies focusing on testabilityporEngenharia de computaçãoCircuitos integradosMétodo SCOAPMétodo CAMELOTTestesTestabilidadeControlabilidadeObservabilidadeComputer engineeringIntegrated circuitsSCOAP methodCAMELOT methodTestsTestabilityControllabilityObservabilityMétricas de testabilidade : controlabilidade e observabilidade em circuitos combinacionaisTestability metrics : controllability and observability in combinational circuitsinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da FURG (RI FURG)instname:Universidade Federal do Rio Grande (FURG)instacron:FURGORIGINAL09.pdf09.pdfapplication/pdf11664696https://repositorio.furg.br/bitstreams/7b16b309-42e3-4509-aebe-e21e56dd5c57/download4d9f870c267ed420e8a740b9215fca6eMD51trueAnonymousREADLICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-81748https://repositorio.furg.br/bitstreams/5b58bcc4-1063-4b0c-84b0-ffb46173b3c6/download8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33MD52falseAnonymousREADTEXT09.pdf.txt09.pdf.txtExtracted texttext/plain861https://repositorio.furg.br/bitstreams/f7d05ae3-9365-4282-a3a7-15c91c341031/downloadbabbd415bb7f74d2c18e9410e7b91d39MD53falseAnonymousREADTHUMBNAIL09.pdf.jpg09.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg3213https://repositorio.furg.br/bitstreams/9651f41e-5045-4797-a10f-81c786ee6b55/download5c301aa854ca17ffeaba83936fe62dfdMD54falseAnonymousREAD1/80942025-12-10 01:50:59.954open.accessoai:repositorio.furg.br:1/8094https://repositorio.furg.brRepositório InstitucionalPUBhttps://repositorio.furg.br/oai/request || http://200.19.254.174/oai/requestrepositorio@furg.br||sib.bdtd@furg.bropendoar:2025-12-10T04:50:59Repositório Institucional da FURG (RI FURG) - Universidade Federal do Rio Grande (FURG)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