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Probabilidade de erro em sistemas MPSK sob a Influ??ncia de canais com desvanecimento e estima????o imperfeita da fase da portadora

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2020
Autor(a) principal: Silva, Pedro Em??lio G??ria lattes
Orientador(a): Souza, Rausley Adriano Amaral de lattes
Banca de defesa: Souza, Rausley Adriano Amaral de lattes, Nardelli, Pedro Henrique Juliano lattes, Bairros , Thiago Alencar Moreira de
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Instituto Nacional de Telecomunica????es
Programa de Pós-Graduação: Mestrado em Engenharia de Telecomunica????es
Departamento: Instituto Nacional de Telecomunica????es
País: Brasil
Palavras-chave em Português:
Palavras-chave em Inglês:
Área do conhecimento CNPq:
Link de acesso: https://tede.inatel.br:8080/tede/handle/tede/200
Resumo: In this dissertation, the average bit error rate of binary and quaternary phase-shift keying signals with imperfect carrier phase recovery is investigated assuming a flat slow - , - and - fading channel and the presence of thermal noise. The analysis of average symbol error rate of M-Phase Shift Keying over - , - and - fading channels subject to imperfect carrier phase recovery is investigated. The phase noise is considered to be Tikhonov and Gaussian distributed. More specifically, an analytical expression for the exact average bit error rate is obtained, as well as its corresponding asymptotic expression for large signal-to-noise ratio values. And also, exact and approximate closed-form expressions for ASER i) under non-fading scenario, ii) under - , iii) - and iv) - fading channels, as well as v) its corresponding asymptotic expression for large signal-to-noise ratio values are derived and evaluated. The derived expressions are valid for arbitrary values of the fading parameters, namely , , and , and they are validated by reducing them to particular cases, for which results are available in the literature and by means of Monte Carlo simulations. Several important conclusions concerning the system performance as a function of the channel parameters and loop signal-to-noise ratio are drawn. Keywords: - , - and - fading model, average bit error rate, average symbol error rate, noisy phase, Tikhonov distribution, von Mises distribution.
id INAT_14e2cde2f4cb3cfe7631a806774266ad
oai_identifier_str oai:localhost:tede/200
network_acronym_str INAT
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da INATEL
repository_id_str
spelling Souza, Rausley Adriano Amaral de996.751.536-87http://lattes.cnpq.br/6238219709706103Souza, Rausley Adriano Amaral de996.751.536-87http://lattes.cnpq.br/6238219709706103Nardelli, Pedro Henrique Julianohttp://lattes.cnpq.br/3953769758774581Bairros , Thiago Alencar Moreira dehttp://lattes.cnpq.br/7257908703226442004.125.909-21106.139.496-41Silva, Pedro Em??lio G??ria2020-03-05T18:31:48Z2020-02-13Silva, Pedro Em??lio G??ria. Probabilidade de erro em sistemas MPSK sob a Influ??ncia de canais com desvanecimento e estima????o imperfeita da fase da portadora. 2020. [53]. disserta????o( Mestrado em Engenharia de Telecomunica????es) - Instituto Nacional de Telecomunica????es, [Santa Rita do Sapucai] .https://tede.inatel.br:8080/tede/handle/tede/200In this dissertation, the average bit error rate of binary and quaternary phase-shift keying signals with imperfect carrier phase recovery is investigated assuming a flat slow - , - and - fading channel and the presence of thermal noise. The analysis of average symbol error rate of M-Phase Shift Keying over - , - and - fading channels subject to imperfect carrier phase recovery is investigated. The phase noise is considered to be Tikhonov and Gaussian distributed. More specifically, an analytical expression for the exact average bit error rate is obtained, as well as its corresponding asymptotic expression for large signal-to-noise ratio values. And also, exact and approximate closed-form expressions for ASER i) under non-fading scenario, ii) under - , iii) - and iv) - fading channels, as well as v) its corresponding asymptotic expression for large signal-to-noise ratio values are derived and evaluated. The derived expressions are valid for arbitrary values of the fading parameters, namely , , and , and they are validated by reducing them to particular cases, for which results are available in the literature and by means of Monte Carlo simulations. Several important conclusions concerning the system performance as a function of the channel parameters and loop signal-to-noise ratio are drawn. Keywords: - , - and - fading model, average bit error rate, average symbol error rate, noisy phase, Tikhonov distribution, von Mises distribution.Nesta disserta????o, a taxa m??dia de erro de bits em sistemas operando com modula????o BPSK e QPSK e estima????o imperfeita da fase da portadora ?? investigada admitindo um canal com desvanecimento lento e plano - , - e - e a presen??a do ru??do t??rmico. A an??lise da taxa m??dia de erros de s??mbolos em sistemas operando com modula????o MPSK sob a hip??tese de desvanecimento lento e plano - , - e - sujeitos ?? estima????o imperfeita da fase e ru??do t??rmico ?? tamb??m investigada. O erro na estima????o da fase segue uma distribui????o Tikhonov ou Gaussiana. Mais especificamente, uma express??o anal??tica para a taxa exata de erros de bits ?? obtida, assim como suas correspondentes express??es assint??ticas para valores altos da rela????o sinal ru??do. E tamb??m, express??es fechadas exatas e aproximadas para a taxa m??dia de erro de s??mbolos i) sob cen??rio sem desvanecimento, canais com desvanecimento ii) sob - , iii) sob - , iv) sob - , assim como v) suas correspondentes express??es assint??ticas para valores altos da rela????o sinal ru??do s??o derivadas e calculadas. As express??es derivadas s??o v??lidas para valores arbitr??rios dos par??metros de desvanecimento, chamados , , e , e elas s??o verificadas tanto por reduzi-las a casos particulares, para os quais os resultados est??o dispon??veis na literatura, quanto por meio de simula????es com a abordagem de Monte Carlo. Diversas conclus??es importantes sobre o desempenho do sistema em fun????o dos par??metros do canal e da rela????o sinal ru??do do loop s??o tiradas. Palavras-Chave: Modelos de desvanecimento - , - e - , taxa m??dia de erro de bits, taxa m??dia de erro de s??mbolos, ru??do de fase, distribui????o Tikhonov, distribui????o von Mises.Submitted by Tede Dspace (tede@inatel.br) on 2020-03-05T18:31:48Z No. of bitstreams: 2 license_rdf: 0 bytes, checksum: d41d8cd98f00b204e9800998ecf8427e (MD5) Disserta????o V.Final Pedro Em??lio G??ria Silva.pdf: 997928 bytes, checksum: c1122d79038f8c95c18d4c916ab28914 (MD5)Made available in DSpace on 2020-03-05T18:31:48Z (GMT). No. of bitstreams: 2 license_rdf: 0 bytes, checksum: d41d8cd98f00b204e9800998ecf8427e (MD5) Disserta????o V.Final Pedro Em??lio G??ria Silva.pdf: 997928 bytes, checksum: c1122d79038f8c95c18d4c916ab28914 (MD5) Previous issue date: 2020-02-13application/pdfhttp://tede.inatel.br:8080/jspui/retrieve/1600/Disserta%c3%a7%c3%a3o%20V.Final%20Pedro%20Em%c3%adlio%20G%c3%b3ria%20Silva.pdf.jpgporInstituto Nacional de Telecomunica????esMestrado em Engenharia de Telecomunica????esINATELBrasilInstituto Nacional de Telecomunica????eshttp://creativecommons.org/licenses/by-nd/4.0/info:eu-repo/semantics/openAccessModelos de desvanecimento; taxa m??dia de erro de bits; taxa m??dia de erro de s??mbolos; ru??do de fase; distribui????o Tikhonov; distribui????o von MisesFading model; average bit error rate; average symbol error rate; noisy phase; Tikhonov distribution; von Mises distributionEngenharia - Telecomunica????esProbabilidade de erro em sistemas MPSK sob a Influ??ncia de canais com desvanecimento e estima????o imperfeita da fase da portadorainfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da INATELinstname:Instituto Nacional de Telecomunicações (INATEL)instacron:INATELLICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-8112http://localhost:8080/tede/bitstream/tede/200/1/license.txtc6279291b293f0db82678eaa73a27769MD51CC-LICENSElicense_urllicense_urltext/plain; charset=utf-846http://localhost:8080/tede/bitstream/tede/200/2/license_url587cd8ffae15c8598ed3c46d248a3f38MD52license_textlicense_texttext/html; charset=utf-80http://localhost:8080/tede/bitstream/tede/200/3/license_textd41d8cd98f00b204e9800998ecf8427eMD53license_rdflicense_rdfapplication/rdf+xml; charset=utf-80http://localhost:8080/tede/bitstream/tede/200/4/license_rdfd41d8cd98f00b204e9800998ecf8427eMD54ORIGINALDisserta????o V.Final Pedro Em??lio G??ria Silva.pdfDisserta????o V.Final Pedro Em??lio G??ria Silva.pdfapplication/pdf997928http://localhost:8080/tede/bitstream/tede/200/5/Disserta%C3%A7%C3%A3o+V.Final+Pedro+Em%C3%ADlio+G%C3%B3ria+Silva.pdfc1122d79038f8c95c18d4c916ab28914MD55TEXTDisserta????o V.Final Pedro Em??lio G??ria Silva.pdf.txtDisserta????o V.Final Pedro Em??lio G??ria Silva.pdf.txttext/plain127074http://localhost:8080/tede/bitstream/tede/200/6/Disserta%C3%A7%C3%A3o+V.Final+Pedro+Em%C3%ADlio+G%C3%B3ria+Silva.pdf.txt15cf7ba9a83f4cbaacec6bf92154048cMD56THUMBNAILDisserta????o V.Final Pedro Em??lio G??ria Silva.pdf.jpgDisserta????o V.Final Pedro Em??lio G??ria Silva.pdf.jpgimage/jpeg4353http://localhost:8080/tede/bitstream/tede/200/7/Disserta%C3%A7%C3%A3o+V.Final+Pedro+Em%C3%ADlio+G%C3%B3ria+Silva.pdf.jpgf5d444525a6d773072faa927fbd19996MD57tede/2002020-03-16 11:55:30.661oai:localhost:tede/200QXV0b3Jpem8gYSBwdWJsaWNhPz9vIGRhIG1pbmhhIERpc3NlcnRhPz9vIGRlIE1lc3RyYWRvLCBlbSBmb3JtYXRvIFBERiwgY29tIGJsb3F1ZWlvIGRlIGVkaT8/bywgY29sYWdlbSBlIGM/cGlhLg==Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttp://tede.inatel.br:8080/jspui/PUBhttp://tede.inatel.br:8080/oai/requestbiblioteca@inatel.br || biblioteca.atendimento@inatel.bropendoar:2020-03-16T14:55:30Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da INATEL - Instituto Nacional de Telecomunicações (INATEL)false
dc.title.por.fl_str_mv Probabilidade de erro em sistemas MPSK sob a Influ??ncia de canais com desvanecimento e estima????o imperfeita da fase da portadora
title Probabilidade de erro em sistemas MPSK sob a Influ??ncia de canais com desvanecimento e estima????o imperfeita da fase da portadora
spellingShingle Probabilidade de erro em sistemas MPSK sob a Influ??ncia de canais com desvanecimento e estima????o imperfeita da fase da portadora
Silva, Pedro Em??lio G??ria
Modelos de desvanecimento; taxa m??dia de erro de bits; taxa m??dia de erro de s??mbolos; ru??do de fase; distribui????o Tikhonov; distribui????o von Mises
Fading model; average bit error rate; average symbol error rate; noisy phase; Tikhonov distribution; von Mises distribution
Engenharia - Telecomunica????es
title_short Probabilidade de erro em sistemas MPSK sob a Influ??ncia de canais com desvanecimento e estima????o imperfeita da fase da portadora
title_full Probabilidade de erro em sistemas MPSK sob a Influ??ncia de canais com desvanecimento e estima????o imperfeita da fase da portadora
title_fullStr Probabilidade de erro em sistemas MPSK sob a Influ??ncia de canais com desvanecimento e estima????o imperfeita da fase da portadora
title_full_unstemmed Probabilidade de erro em sistemas MPSK sob a Influ??ncia de canais com desvanecimento e estima????o imperfeita da fase da portadora
title_sort Probabilidade de erro em sistemas MPSK sob a Influ??ncia de canais com desvanecimento e estima????o imperfeita da fase da portadora
author Silva, Pedro Em??lio G??ria
author_facet Silva, Pedro Em??lio G??ria
author_role author
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Souza, Rausley Adriano Amaral de
dc.contributor.advisor1ID.fl_str_mv 996.751.536-87
dc.contributor.advisor1Lattes.fl_str_mv http://lattes.cnpq.br/6238219709706103
dc.contributor.referee1.fl_str_mv Souza, Rausley Adriano Amaral de
dc.contributor.referee1ID.fl_str_mv 996.751.536-87
dc.contributor.referee1Lattes.fl_str_mv http://lattes.cnpq.br/6238219709706103
dc.contributor.referee2.fl_str_mv Nardelli, Pedro Henrique Juliano
dc.contributor.referee2ID.fl_str_mv http://lattes.cnpq.br/3953769758774581
dc.contributor.referee3.fl_str_mv Bairros , Thiago Alencar Moreira de
dc.contributor.referee3ID.fl_str_mv http://lattes.cnpq.br/7257908703226442
dc.contributor.referee3Lattes.fl_str_mv 004.125.909-21
dc.contributor.authorLattes.fl_str_mv 106.139.496-41
dc.contributor.author.fl_str_mv Silva, Pedro Em??lio G??ria
contributor_str_mv Souza, Rausley Adriano Amaral de
Souza, Rausley Adriano Amaral de
Nardelli, Pedro Henrique Juliano
Bairros , Thiago Alencar Moreira de
dc.subject.por.fl_str_mv Modelos de desvanecimento; taxa m??dia de erro de bits; taxa m??dia de erro de s??mbolos; ru??do de fase; distribui????o Tikhonov; distribui????o von Mises
topic Modelos de desvanecimento; taxa m??dia de erro de bits; taxa m??dia de erro de s??mbolos; ru??do de fase; distribui????o Tikhonov; distribui????o von Mises
Fading model; average bit error rate; average symbol error rate; noisy phase; Tikhonov distribution; von Mises distribution
Engenharia - Telecomunica????es
dc.subject.eng.fl_str_mv Fading model; average bit error rate; average symbol error rate; noisy phase; Tikhonov distribution; von Mises distribution
dc.subject.cnpq.fl_str_mv Engenharia - Telecomunica????es
description In this dissertation, the average bit error rate of binary and quaternary phase-shift keying signals with imperfect carrier phase recovery is investigated assuming a flat slow - , - and - fading channel and the presence of thermal noise. The analysis of average symbol error rate of M-Phase Shift Keying over - , - and - fading channels subject to imperfect carrier phase recovery is investigated. The phase noise is considered to be Tikhonov and Gaussian distributed. More specifically, an analytical expression for the exact average bit error rate is obtained, as well as its corresponding asymptotic expression for large signal-to-noise ratio values. And also, exact and approximate closed-form expressions for ASER i) under non-fading scenario, ii) under - , iii) - and iv) - fading channels, as well as v) its corresponding asymptotic expression for large signal-to-noise ratio values are derived and evaluated. The derived expressions are valid for arbitrary values of the fading parameters, namely , , and , and they are validated by reducing them to particular cases, for which results are available in the literature and by means of Monte Carlo simulations. Several important conclusions concerning the system performance as a function of the channel parameters and loop signal-to-noise ratio are drawn. Keywords: - , - and - fading model, average bit error rate, average symbol error rate, noisy phase, Tikhonov distribution, von Mises distribution.
publishDate 2020
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2020-03-05T18:31:48Z
dc.date.issued.fl_str_mv 2020-02-13
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.citation.fl_str_mv Silva, Pedro Em??lio G??ria. Probabilidade de erro em sistemas MPSK sob a Influ??ncia de canais com desvanecimento e estima????o imperfeita da fase da portadora. 2020. [53]. disserta????o( Mestrado em Engenharia de Telecomunica????es) - Instituto Nacional de Telecomunica????es, [Santa Rita do Sapucai] .
dc.identifier.uri.fl_str_mv https://tede.inatel.br:8080/tede/handle/tede/200
identifier_str_mv Silva, Pedro Em??lio G??ria. Probabilidade de erro em sistemas MPSK sob a Influ??ncia de canais com desvanecimento e estima????o imperfeita da fase da portadora. 2020. [53]. disserta????o( Mestrado em Engenharia de Telecomunica????es) - Instituto Nacional de Telecomunica????es, [Santa Rita do Sapucai] .
url https://tede.inatel.br:8080/tede/handle/tede/200
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv http://creativecommons.org/licenses/by-nd/4.0/
info:eu-repo/semantics/openAccess
rights_invalid_str_mv http://creativecommons.org/licenses/by-nd/4.0/
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Instituto Nacional de Telecomunica????es
dc.publisher.program.fl_str_mv Mestrado em Engenharia de Telecomunica????es
dc.publisher.initials.fl_str_mv INATEL
dc.publisher.country.fl_str_mv Brasil
dc.publisher.department.fl_str_mv Instituto Nacional de Telecomunica????es
publisher.none.fl_str_mv Instituto Nacional de Telecomunica????es
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da INATEL
instname:Instituto Nacional de Telecomunicações (INATEL)
instacron:INATEL
instname_str Instituto Nacional de Telecomunicações (INATEL)
instacron_str INATEL
institution INATEL
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da INATEL
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da INATEL
bitstream.url.fl_str_mv http://localhost:8080/tede/bitstream/tede/200/1/license.txt
http://localhost:8080/tede/bitstream/tede/200/2/license_url
http://localhost:8080/tede/bitstream/tede/200/3/license_text
http://localhost:8080/tede/bitstream/tede/200/4/license_rdf
http://localhost:8080/tede/bitstream/tede/200/5/Disserta%C3%A7%C3%A3o+V.Final+Pedro+Em%C3%ADlio+G%C3%B3ria+Silva.pdf
http://localhost:8080/tede/bitstream/tede/200/6/Disserta%C3%A7%C3%A3o+V.Final+Pedro+Em%C3%ADlio+G%C3%B3ria+Silva.pdf.txt
http://localhost:8080/tede/bitstream/tede/200/7/Disserta%C3%A7%C3%A3o+V.Final+Pedro+Em%C3%ADlio+G%C3%B3ria+Silva.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv c6279291b293f0db82678eaa73a27769
587cd8ffae15c8598ed3c46d248a3f38
d41d8cd98f00b204e9800998ecf8427e
d41d8cd98f00b204e9800998ecf8427e
c1122d79038f8c95c18d4c916ab28914
15cf7ba9a83f4cbaacec6bf92154048c
f5d444525a6d773072faa927fbd19996
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
MD5
MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da INATEL - Instituto Nacional de Telecomunicações (INATEL)
repository.mail.fl_str_mv biblioteca@inatel.br || biblioteca.atendimento@inatel.br
_version_ 1861905110295117824