Estudo do efeito do tipo de dopagem no Carbeto de silício para aplicação na indústria de semicondutores
Ano de defesa: | 2020 |
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Orientador(a): | |
Banca de defesa: | |
Tipo de documento: | Dissertação |
Tipo de acesso: | Acesso aberto |
Idioma: | por |
Instituição de defesa: |
Pontifícia Universidade Católica de Goiás
Escola de Engenharia::Curso de Engenharia de Produção Brasil PUC Goiás Programa de Pós-Graduação STRICTO SENSU em Engenharia de Produção e Sistemas |
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País: |
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Palavras-chave em Português: | |
Link de acesso: | http://tede2.pucgoias.edu.br:8080/handle/tede/4473 |
Resumo: | Neste trabalho estudamos o transporte de carga no semicondutor carbeto de silício na forma 4H-SiC dopado tipo p ou n, utilizando uma equação diferencial de movimento. A dependência do transporte de carga elétrica em função da intensidade e direção do campo elétrico aplicado, da temperatura e do tipo de dopagem (p ou n) foi analisada. Obtemos que a maior mobilidade ocorre quando o semicondutor 4H-SiC é dopado tipo n, com a direção do campo elétrico perpendicular ao eixo c do cristal |
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Estudo do efeito do tipo de dopagem no Carbeto de silício para aplicação na indústria de semicondutoresStudy of the effect of doping type on silicon carbide for application in the semiconductor industrySemicondutores; carbeto de silício; SiC; mobilidadeSemiconductors; silicon carbide; SiC; mobilityEngenharias: Engenharia de ProduçãoNeste trabalho estudamos o transporte de carga no semicondutor carbeto de silício na forma 4H-SiC dopado tipo p ou n, utilizando uma equação diferencial de movimento. A dependência do transporte de carga elétrica em função da intensidade e direção do campo elétrico aplicado, da temperatura e do tipo de dopagem (p ou n) foi analisada. Obtemos que a maior mobilidade ocorre quando o semicondutor 4H-SiC é dopado tipo n, com a direção do campo elétrico perpendicular ao eixo c do cristalIn this work we study the charge transport in the silicon carbide semiconductor in the form of 4H-SiC, doped type p or n, using a differential equation of motion. The dependence of the electric charge transport according to the intensity and direction of the applied electric field, the crystal temperature and the type of doping (p or n) was analyzed. We obtain that the greatest mobility occurs when the semiconductor 4H-SiC is doped type n, with the direction of the electric field perpendicular to the c axis of the crystalPontifícia Universidade Católica de GoiásEscola de Engenharia::Curso de Engenharia de ProduçãoBrasilPUC GoiásPrograma de Pós-Graduação STRICTO SENSU em Engenharia de Produção e SistemasRodrigues, Clóves Gonçalveshttp://lattes.cnpq.br/7962325017303457Calixto, Wesley Pachecohttp://lattes.cnpq.br/9073478192027867Menezes, José Elmo dehttp://lattes.cnpq.br/9654702573176547Vasconcelos, Jackelinne Lares2020-09-29T19:36:31Z2020-03-24info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdfVasconcelos, Jackelinne Lares. Estudo do efeito do tipo de dopagem no Carbeto de Silício para aplicação na indústria de semicondutores. 2020. 45 f. Dissertação (mestrado) -- Pontifícia Universidade Católica de Goiás, Escola de Engenharia, Goiânia, 2020http://tede2.pucgoias.edu.br:8080/handle/tede/4473porinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_GOAIS (TEDE-PUC Goiás)instname:Pontifícia Universidade Católica de Goiás (PUC-GO)instacron:PUC_GO2020-12-01T17:46:16Zoai:ambar:tede/4473Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttp://tede2.pucgoias.edu.br:8080/http://tede2.pucgoias.edu.br:8080/oai/requesttede@pucgoias.edu.br||tede@pucgoias.edu.bropendoar:65932020-12-01T17:46:16Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da PUC_GOAIS (TEDE-PUC Goiás) - Pontifícia Universidade Católica de Goiás (PUC-GO)false |
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