Filmes de diamante não-dopados e dopados: um estudo sistemático usando espectroscopia Raman

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2004
Autor(a) principal: Silva, William Fortunato da
Orientador(a): Galzerani, José Cláudio lattes
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Tese
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Universidade Federal de São Carlos
Programa de Pós-Graduação: Programa de Pós-Graduação em Física - PPGF
Departamento: Não Informado pela instituição
País: BR
Palavras-chave em Português:
Área do conhecimento CNPq:
Link de acesso: https://repositorio.ufscar.br/handle/ufscar/4988
Resumo: Diamond films grown by both hot filament (HFCVD) and microwave-plasma (MW-CVD) assisted chemical vapor deposition were investigated. Raman spectroscopy, scan- ning electron microscopy and X-ray di¤raction were employed in order to perform systematic studies about the crystalline quality and the phase purity of the films, as a function of the deposition temperature. It was found that both techniques produced diamond films of similarly good purity; however, the MWCVD produced films of higher crystalline quality. Changes in the shape of the Raman line were found to be due to both phonon confinement and residual stress. Photoluminescence (PL) measurements were employed in a detailed study of the origin of defects in the diamond films grown by MWCVD and HFCVD. The results showed evidence of optical centers induced by different impurities. The defects were captured by silicon and tungsten atoms incorporated, respectively, in the diamond lattice of films grown by MWCVD and HFCVD. Boron-doped diamond films were also studied using Raman and transport measurements. Boron incorporation induces disorder in the diamond structure, causes the appearance of a band observed at ~ 1220 cm-1, and provokes an effect in the Raman line of diamond that could be attributed to the Fano type interference. Resistivity as a function of the boron concentration - in association with the Raman spectra - and temperature dependent transport measurements were employed. The results showed that the variable range hopping mechanism (VRH) dominates the transport in these doped diamond films.
id SCAR_0ca011032cd276816b4a746abd58b430
oai_identifier_str oai:repositorio.ufscar.br:ufscar/4988
network_acronym_str SCAR
network_name_str Repositório Institucional da UFSCAR
repository_id_str
spelling Silva, William Fortunato daGalzerani, José Cláudiohttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4783800D6http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4795115A6&dataRevisao=nulla82ffc5d-6696-420e-a1f6-794c5b1a0b4c2016-06-02T20:15:36Z2007-10-192016-06-02T20:15:36Z2004-11-17SILVA, William Fortunato da. Filmes de diamante não-dopados e dopados: um estudo sistemático usando espectroscopia Raman.. 2004. 117 f. Tese (Doutorado em Ciências Exatas e da Terra) - Universidade Federal de São Carlos, São Carlos, 2004.https://repositorio.ufscar.br/handle/ufscar/4988Diamond films grown by both hot filament (HFCVD) and microwave-plasma (MW-CVD) assisted chemical vapor deposition were investigated. Raman spectroscopy, scan- ning electron microscopy and X-ray di¤raction were employed in order to perform systematic studies about the crystalline quality and the phase purity of the films, as a function of the deposition temperature. It was found that both techniques produced diamond films of similarly good purity; however, the MWCVD produced films of higher crystalline quality. Changes in the shape of the Raman line were found to be due to both phonon confinement and residual stress. Photoluminescence (PL) measurements were employed in a detailed study of the origin of defects in the diamond films grown by MWCVD and HFCVD. The results showed evidence of optical centers induced by different impurities. The defects were captured by silicon and tungsten atoms incorporated, respectively, in the diamond lattice of films grown by MWCVD and HFCVD. Boron-doped diamond films were also studied using Raman and transport measurements. Boron incorporation induces disorder in the diamond structure, causes the appearance of a band observed at ~ 1220 cm-1, and provokes an effect in the Raman line of diamond that could be attributed to the Fano type interference. Resistivity as a function of the boron concentration - in association with the Raman spectra - and temperature dependent transport measurements were employed. The results showed that the variable range hopping mechanism (VRH) dominates the transport in these doped diamond films.Filmes de diamante crescidos por deposição de vapor químico (CVD) assistido por filamento quente (HFCVD) e plasma de microondas (MWCVD) foram investigados. Espectroscopia Raman, microscopia eletrônica de varredura e difração de raios-X foram utilizadas para realizar estudos sistemáticos sobre a qualidade cristalina e a pureza de fase dos filmes, como função da temperatura de deposição. Ambas as técnicas produziram filmes de pureza similarmente boa. No entanto, a técnica de MWCVD foi a que forneceu maior qualidade cristalina. Mudanças na forma da linha Raman foram atribuídas tanto ao confinamento do fônon quanto ao estresse residual. Medidas de fotoluminescência (PL) foram realizadas em um estudo detalhado sobre a origem dos defeitos nos filmes de diamante crescidos por MWCVD e HFCVD. Os resultados mostraram evidências de centros ópticos induzidos por diferentes impurezas. Os defeitos foram aprisionados pela incorporação de átomos de silício e de tungstênio, respectivamente, na rede do diamante dos filmes crescidos por MWCVD e HFCVD. Filmes de diamante dopados com boro também foram estudados, usando medidas Raman e de transporte. A incorporação do boro induz desordem na rede do diamante, causando a aparecimento de banda Raman em ~ 1220 cm-1, e provoca efeito na linha Raman do diamante que pôde ser atribuído a uma interferência tipo-Fano. Medidas da resistividade em função da concentração de boro - em associação com os espectros Raman - e de transporte dependente da temperatura também foram realizadas. Os resultados mostraram que o mecanismo "hopping" de alcance variável (VRH) domina o transporte nesses filmes.Universidade Federal de Minas Geraisapplication/pdfporUniversidade Federal de São CarlosPrograma de Pós-Graduação em Física - PPGFUFSCarBRFísica da matéria condensadaCaracterização óticaSólidos - propriedades óticasDeposição por vapor químico (CVC)Raman, Espectroscopia deSemicondutoresCIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADAFilmes de diamante não-dopados e dopados: um estudo sistemático usando espectroscopia Ramaninfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/doctoralThesis-1-170001c46-5608-4c12-9407-490639f07320info:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UFSCARinstname:Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR)instacron:UFSCARORIGINALTeseWFS.pdfapplication/pdf4914051https://repositorio.ufscar.br/bitstream/ufscar/4988/1/TeseWFS.pdf4550c1829eb7c8f4350da734e26556b4MD51THUMBNAILTeseWFS.pdf.jpgTeseWFS.pdf.jpgIM Thumbnailimage/jpeg7844https://repositorio.ufscar.br/bitstream/ufscar/4988/2/TeseWFS.pdf.jpg2172c39fd20ca6c28ecd9cffdf0deff6MD52ufscar/49882023-09-18 18:32:21.902oai:repositorio.ufscar.br:ufscar/4988Repositório InstitucionalPUBhttps://repositorio.ufscar.br/oai/requestopendoar:43222023-09-18T18:32:21Repositório Institucional da UFSCAR - Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR)false
dc.title.por.fl_str_mv Filmes de diamante não-dopados e dopados: um estudo sistemático usando espectroscopia Raman
title Filmes de diamante não-dopados e dopados: um estudo sistemático usando espectroscopia Raman
spellingShingle Filmes de diamante não-dopados e dopados: um estudo sistemático usando espectroscopia Raman
Silva, William Fortunato da
Física da matéria condensada
Caracterização ótica
Sólidos - propriedades óticas
Deposição por vapor químico (CVC)
Raman, Espectroscopia de
Semicondutores
CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADA
title_short Filmes de diamante não-dopados e dopados: um estudo sistemático usando espectroscopia Raman
title_full Filmes de diamante não-dopados e dopados: um estudo sistemático usando espectroscopia Raman
title_fullStr Filmes de diamante não-dopados e dopados: um estudo sistemático usando espectroscopia Raman
title_full_unstemmed Filmes de diamante não-dopados e dopados: um estudo sistemático usando espectroscopia Raman
title_sort Filmes de diamante não-dopados e dopados: um estudo sistemático usando espectroscopia Raman
author Silva, William Fortunato da
author_facet Silva, William Fortunato da
author_role author
dc.contributor.authorlattes.por.fl_str_mv http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4795115A6&dataRevisao=null
dc.contributor.author.fl_str_mv Silva, William Fortunato da
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Galzerani, José Cláudio
dc.contributor.advisor1Lattes.fl_str_mv http://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4783800D6
dc.contributor.authorID.fl_str_mv a82ffc5d-6696-420e-a1f6-794c5b1a0b4c
contributor_str_mv Galzerani, José Cláudio
dc.subject.por.fl_str_mv Física da matéria condensada
Caracterização ótica
Sólidos - propriedades óticas
Deposição por vapor químico (CVC)
Raman, Espectroscopia de
Semicondutores
topic Física da matéria condensada
Caracterização ótica
Sólidos - propriedades óticas
Deposição por vapor químico (CVC)
Raman, Espectroscopia de
Semicondutores
CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADA
dc.subject.cnpq.fl_str_mv CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADA
description Diamond films grown by both hot filament (HFCVD) and microwave-plasma (MW-CVD) assisted chemical vapor deposition were investigated. Raman spectroscopy, scan- ning electron microscopy and X-ray di¤raction were employed in order to perform systematic studies about the crystalline quality and the phase purity of the films, as a function of the deposition temperature. It was found that both techniques produced diamond films of similarly good purity; however, the MWCVD produced films of higher crystalline quality. Changes in the shape of the Raman line were found to be due to both phonon confinement and residual stress. Photoluminescence (PL) measurements were employed in a detailed study of the origin of defects in the diamond films grown by MWCVD and HFCVD. The results showed evidence of optical centers induced by different impurities. The defects were captured by silicon and tungsten atoms incorporated, respectively, in the diamond lattice of films grown by MWCVD and HFCVD. Boron-doped diamond films were also studied using Raman and transport measurements. Boron incorporation induces disorder in the diamond structure, causes the appearance of a band observed at ~ 1220 cm-1, and provokes an effect in the Raman line of diamond that could be attributed to the Fano type interference. Resistivity as a function of the boron concentration - in association with the Raman spectra - and temperature dependent transport measurements were employed. The results showed that the variable range hopping mechanism (VRH) dominates the transport in these doped diamond films.
publishDate 2004
dc.date.issued.fl_str_mv 2004-11-17
dc.date.available.fl_str_mv 2007-10-19
2016-06-02T20:15:36Z
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2016-06-02T20:15:36Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
format doctoralThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.citation.fl_str_mv SILVA, William Fortunato da. Filmes de diamante não-dopados e dopados: um estudo sistemático usando espectroscopia Raman.. 2004. 117 f. Tese (Doutorado em Ciências Exatas e da Terra) - Universidade Federal de São Carlos, São Carlos, 2004.
dc.identifier.uri.fl_str_mv https://repositorio.ufscar.br/handle/ufscar/4988
identifier_str_mv SILVA, William Fortunato da. Filmes de diamante não-dopados e dopados: um estudo sistemático usando espectroscopia Raman.. 2004. 117 f. Tese (Doutorado em Ciências Exatas e da Terra) - Universidade Federal de São Carlos, São Carlos, 2004.
url https://repositorio.ufscar.br/handle/ufscar/4988
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.relation.confidence.fl_str_mv -1
-1
dc.relation.authority.fl_str_mv 70001c46-5608-4c12-9407-490639f07320
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidade Federal de São Carlos
dc.publisher.program.fl_str_mv Programa de Pós-Graduação em Física - PPGF
dc.publisher.initials.fl_str_mv UFSCar
dc.publisher.country.fl_str_mv BR
publisher.none.fl_str_mv Universidade Federal de São Carlos
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositório Institucional da UFSCAR
instname:Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR)
instacron:UFSCAR
instname_str Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR)
instacron_str UFSCAR
institution UFSCAR
reponame_str Repositório Institucional da UFSCAR
collection Repositório Institucional da UFSCAR
bitstream.url.fl_str_mv https://repositorio.ufscar.br/bitstream/ufscar/4988/1/TeseWFS.pdf
https://repositorio.ufscar.br/bitstream/ufscar/4988/2/TeseWFS.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv 4550c1829eb7c8f4350da734e26556b4
2172c39fd20ca6c28ecd9cffdf0deff6
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Repositório Institucional da UFSCAR - Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR)
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1802136494665629696