Caracterização estrutural e elétrica de óxidos semicondutores do tipo espinélio.

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2002
Autor(a) principal: Gomes, Keydson Quaresma
Orientador(a): Paulin Filho, Pedro Iris lattes
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Tese
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Universidade Federal de São Carlos
Programa de Pós-Graduação: Programa de Pós-Graduação em Ciência e Engenharia de Materiais - PPGCEM
Departamento: Não Informado pela instituição
País: BR
Palavras-chave em Português:
Área do conhecimento CNPq:
Link de acesso: https://repositorio.ufscar.br/handle/ufscar/651
Resumo: Universidade Federal de Sao Carlos
id SCAR_190c5950af519aa94889d161236d408c
oai_identifier_str oai:repositorio.ufscar.br:ufscar/651
network_acronym_str SCAR
network_name_str Repositório Institucional da UFSCAR
repository_id_str
spelling Gomes, Keydson QuaresmaPaulin Filho, Pedro Irishttp://genos.cnpq.br:12010/dwlattes/owa/consultapesq.prc_querylist2016-06-02T19:09:58Z2004-08-142016-06-02T19:09:58Z2002-10-14GOMES, Keydson Quaresma. Caracterização estrutural e elétrica de óxidos semicondutores do tipo espinélio.. 2002. 185 f. Tese (Doutorado em Ciências Exatas e da Terra) - Universidade Federal de São Carlos, São Carlos, 2002.https://repositorio.ufscar.br/handle/ufscar/651Universidade Federal de Sao CarlosAmostras cristalinas com conteúdo óxido provenientes dos sistemas [(x)(MnO)] [(1-x)(CoO)] [Al2O3], [(x)(NiO)] [(1-x)(CoO)] [Al2O3], [(x)(MnO)] [(1- x)(CuO)] [Al2O3] e [(x)(NiO)] [(1-x)(CuO)] [Al2O3] (0,05 ≤ x ≤ 0,95) tiveram suas propriedades elétricas e estruturais investigadas. A análise por difração de raios-X do pó indicou a formação da fase espinélio proveniente dos sistemas em todas as amostras. Os resultados quantitativos e o refinamento estrutural das amostras foram realizados pelo método de Rietveld. A formação da solução sólida foi indicada pela variação no parâmetro de rede. A resistividade dc (ρdc), a impedância complexa, a permissividade dielétrica (ε ) e a tangente de perda dielétrica (tang δ) foram investigadas em função da composição, temperatura de sinterização e freqüência. O sistema à base de Cu-Al2O3 mostrou-se mais condutivo para os resultados das propriedades elétricas. Os valores da energia de ativação foram calculados para todas as amostras e os resultados indicaram uma característica de materiais semicondutores. A adição de Ni e Mn no sistema Cu-Al2O3 aumentou a resistividade das amostras como uma conseqüência da redução dos íons de Cu no sistema, com isso reduziu o hopping de elétrons entre os ions Cu+2 → Cu+1 que caracteriza o mecanismo de condução. A adição de Ni, no sistema Co-Al2O3, aumentou a resistividade das amostras porque neste sistema o mecanismo de condução é dominado pelas trocas de elétrons entre os íons de Co. A adição de Mn no sistema Co-Al2O3 reduziu a resistividade das amostras, porque o mecanismo de condução dominante passou a ser do hopping de elétrons entre os íons Mn+2 → Mn+3 considerados mais efetivos que os íons de Co. A tangente de perda dielétrica e a permissividade dielétrica aumentam com o aumento da temperatura e diminuem quando a freqüência diminui. Todas as amostras apresentaram este comportamento dielétrico considerado normal em função da freqüência, que é devido ao hopping local de elétrons do mesmo elemento com diferença de uma unidade na valência, caracterizado pelos íons Mn+2 → Mn+3, Co+2 → Co+3, Cu+2 → Cu+1 como os responsáveis pela condução elétrica e polarização dielétrica nos sistemas investigados.application/pdfporUniversidade Federal de São CarlosPrograma de Pós-Graduação em Ciência e Engenharia de Materiais - PPGCEMUFSCarBRMaterial cerâmicoEspinélioEspectroscopia de impedânciaPropriedades elétricasRietved, MétodosENGENHARIAS::ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICACaracterização estrutural e elétrica de óxidos semicondutores do tipo espinélio.info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UFSCARinstname:Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR)instacron:UFSCARORIGINALTeseKQG.pdfapplication/pdf1532149https://{{ getenv "DSPACE_HOST" "repositorio.ufscar.br" }}/bitstream/ufscar/651/1/TeseKQG.pdf1ebd79a948b891df70bd45a1319b4782MD51THUMBNAILTeseKQG.pdf.jpgTeseKQG.pdf.jpgIM Thumbnailimage/jpeg5783https://{{ getenv "DSPACE_HOST" "repositorio.ufscar.br" }}/bitstream/ufscar/651/2/TeseKQG.pdf.jpg87fcd213f9b9671b231bb1ad31c0caf3MD52ufscar/6512020-03-23 19:53:07.22oai:repositorio.ufscar.br:ufscar/651Repositório InstitucionalPUBhttps://repositorio.ufscar.br/oai/requestopendoar:43222023-05-25T12:43:33.094400Repositório Institucional da UFSCAR - Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR)false
dc.title.por.fl_str_mv Caracterização estrutural e elétrica de óxidos semicondutores do tipo espinélio.
title Caracterização estrutural e elétrica de óxidos semicondutores do tipo espinélio.
spellingShingle Caracterização estrutural e elétrica de óxidos semicondutores do tipo espinélio.
Gomes, Keydson Quaresma
Material cerâmico
Espinélio
Espectroscopia de impedância
Propriedades elétricas
Rietved, Métodos
ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICA
title_short Caracterização estrutural e elétrica de óxidos semicondutores do tipo espinélio.
title_full Caracterização estrutural e elétrica de óxidos semicondutores do tipo espinélio.
title_fullStr Caracterização estrutural e elétrica de óxidos semicondutores do tipo espinélio.
title_full_unstemmed Caracterização estrutural e elétrica de óxidos semicondutores do tipo espinélio.
title_sort Caracterização estrutural e elétrica de óxidos semicondutores do tipo espinélio.
author Gomes, Keydson Quaresma
author_facet Gomes, Keydson Quaresma
author_role author
dc.contributor.author.fl_str_mv Gomes, Keydson Quaresma
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Paulin Filho, Pedro Iris
dc.contributor.advisor1Lattes.fl_str_mv http://genos.cnpq.br:12010/dwlattes/owa/consultapesq.prc_querylist
contributor_str_mv Paulin Filho, Pedro Iris
dc.subject.por.fl_str_mv Material cerâmico
Espinélio
Espectroscopia de impedância
Propriedades elétricas
Rietved, Métodos
topic Material cerâmico
Espinélio
Espectroscopia de impedância
Propriedades elétricas
Rietved, Métodos
ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICA
dc.subject.cnpq.fl_str_mv ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICA
description Universidade Federal de Sao Carlos
publishDate 2002
dc.date.issued.fl_str_mv 2002-10-14
dc.date.available.fl_str_mv 2004-08-14
2016-06-02T19:09:58Z
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2016-06-02T19:09:58Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
format doctoralThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.citation.fl_str_mv GOMES, Keydson Quaresma. Caracterização estrutural e elétrica de óxidos semicondutores do tipo espinélio.. 2002. 185 f. Tese (Doutorado em Ciências Exatas e da Terra) - Universidade Federal de São Carlos, São Carlos, 2002.
dc.identifier.uri.fl_str_mv https://repositorio.ufscar.br/handle/ufscar/651
identifier_str_mv GOMES, Keydson Quaresma. Caracterização estrutural e elétrica de óxidos semicondutores do tipo espinélio.. 2002. 185 f. Tese (Doutorado em Ciências Exatas e da Terra) - Universidade Federal de São Carlos, São Carlos, 2002.
url https://repositorio.ufscar.br/handle/ufscar/651
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidade Federal de São Carlos
dc.publisher.program.fl_str_mv Programa de Pós-Graduação em Ciência e Engenharia de Materiais - PPGCEM
dc.publisher.initials.fl_str_mv UFSCar
dc.publisher.country.fl_str_mv BR
publisher.none.fl_str_mv Universidade Federal de São Carlos
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositório Institucional da UFSCAR
instname:Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR)
instacron:UFSCAR
instname_str Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR)
instacron_str UFSCAR
institution UFSCAR
reponame_str Repositório Institucional da UFSCAR
collection Repositório Institucional da UFSCAR
bitstream.url.fl_str_mv https://{{ getenv "DSPACE_HOST" "repositorio.ufscar.br" }}/bitstream/ufscar/651/1/TeseKQG.pdf
https://{{ getenv "DSPACE_HOST" "repositorio.ufscar.br" }}/bitstream/ufscar/651/2/TeseKQG.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv 1ebd79a948b891df70bd45a1319b4782
87fcd213f9b9671b231bb1ad31c0caf3
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Repositório Institucional da UFSCAR - Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR)
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1767351055610281984