Geração automática de scripts de testes em ambiente 61850.

• Ano de defesa: 2011
• Autor(a) principal: CRUZ, Alan de Farias.
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Universidade Federal de Campina Grande; Brasil; Centro de Engenharia Elétrica e Informática - CEEI; PÓS-GRADUAÇÃO EM CIÊNCIA DA COMPUTAÇÃO; UFCG
• Palavras-chave em Português: Geração Automática - Testes; Geração de Scripts; Testes; Model-Based Testing (MBT); Ambiente 61850; Sistema de Automação de Subestação (SAS); Intelligent Electronic Device (IED); Automatic Generation - Tests; Generation of Scripts; Tests; Environment 61850; Substation Automation System (SAS); Ciência da Computação
• Link de acesso: http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/11348

A norma IEC 61850 e o novo protocolo de comunicação para subestações elétricas, padronizando a troca de mensagens entre dispositivos eletrônicos inteligentes (Intelligent Electronic Device - IED). O meio de propagação de valores deixou de ser analógico (usando sinais elétricos) para ser digital (usando informações digitais: comandos, mensagens, etc), supervisionadas e controladas por um sistema de automação de subestação (SAS). A norma definiu um modelo de comunicação entre os IEDs para permitir que equipamentos de diferentes fabricantes possam trocar informação; sem a necessidade de um conversor de protocolos. Gerar os testes que contemplem a comunicação dos IEDs envolvidos numa subestação não e uma atividade trivial. Sistemas de automação de subestações possuem uma natureza concorrente - quando existem dois ou mais processos executados simultaneamente que disputam recursos do sistema. As diversas situações que podem ocorrer precisam ser testadas para garantir que o desempenho dos IEDs seja satisfatório. Foi desenvolvida uma estrategia baseada em Model-Based Testing de geração de casos de testes, a qual e aplicada em ambientes que utilizam a norma IEC 61850 baseandose na especificação de uma subestação elétrica e critérios de seleção de casos de testes. Os casos de testes gerados contemplam acoes desempenhadas pelos nos lógicos (Logical Node - LN) descritos na topologia de forma integrada. O estudo de caso utilizado para estes experimentos contem os principais nos lógicos (Logical Node - LN) envolvidos numa subestação 61850. O numero de casos de testes gerados depende da atual configuração da subestação. Para testes em LN isolados, o numero de casos de testes varia de 4 ate 30, e em componentes integrados, o numero de casos de testes pode chegar a 500.000 ou mais, exigindo uma ferramenta de seleção de casos de testes que permita estabelecer um critério de seleção.