Uso da radiação gama para compensação da tensão de offset em amplificadores operacionais

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2025
Autor(a) principal: CARVALHO, Karina Ferreira dos Santos
Orientador(a): SILVA, Edvane Borges da
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso embargado
Idioma: por
Instituição de defesa: Universidade Federal de Pernambuco
Programa de Pós-Graduação: Programa de Pos Graduacao em Tecnologias Energeticas e Nuclear
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Brasil
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: https://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/64348
Resumo: Estudos da interação da radiação ionizante sobre transistores vêm sendo desenvolvidos nos últimos anos, envolvendo tanto a degradação desses dispositivos quanto sua utilização como detector de radiação. Os sinais produzidos em diversos dispositivos eletrônicos, como nos detectores de radiação, são muito baixos e necessitam ser amplificados antes de serem processados. Devido a sua importância e grande aplicabilidade em circuitos integrados analógicos, o circuito do amplificador operacional (AOP) foi utilizado neste estudo. Porém existem algumas limitações dos AOPs reais que afetam o projeto dos circuitos, sendo a tensão de offset de entrada uma das principais imperfeições em corrente contínua. A principal causa deste desequilíbrio é o descasamento de transistores do estágio diferencial de entrada do amplificador. Este trabalho consistiu no desenvolvimento de um método inovador para ajuste da tensão de offset em AOPs utilizando a radiação gama para casar os parâmetros de ganho de corrente dos transistores de entrada do circuito AOP. Para os estudos realizados foram selecionados transistores bipolares de junção (TBJ) tipo npn (ZTX 651) os quais foram irradiados com diferentes energias e taxas de doses (fontes de radiação gama do cobalto-60 e césio-137). Após a irradiação, esses transistores foram utilizados na montagem do circuito diferencial do AOP. Os resultados evidenciaram a diminuição do ganho do TBJ após cada dose de radiação gama de forma linear, o que implica dizer que o TBJ também pode ser utilizado na dosimetria gama. Já as tensões de offset no circuito do AOP discreto utilizado reduziram, com a utilização da radiação gama, da ordem de centena para dezena de milivolts. Conclui-se, portanto, que o método proposto não apenas oferece uma nova abordagem para ajuste de offset em AOPs, como também abre novas perspectivas para aplicações em dosimetria de radiação. Contudo, destaca-se que o tema ainda não se encontra esgotado: há espaço para otimizações, tanto na metodologia quanto na exploração de outros dispositivos eletrônicos, como transistores de efeito de campo (FETs), que poderão expandir ainda mais as aplicações e a eficiência da técnica desenvolvida.
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Devido a sua importância e grande aplicabilidade em circuitos integrados analógicos, o circuito do amplificador operacional (AOP) foi utilizado neste estudo. Porém existem algumas limitações dos AOPs reais que afetam o projeto dos circuitos, sendo a tensão de offset de entrada uma das principais imperfeições em corrente contínua. A principal causa deste desequilíbrio é o descasamento de transistores do estágio diferencial de entrada do amplificador. Este trabalho consistiu no desenvolvimento de um método inovador para ajuste da tensão de offset em AOPs utilizando a radiação gama para casar os parâmetros de ganho de corrente dos transistores de entrada do circuito AOP. Para os estudos realizados foram selecionados transistores bipolares de junção (TBJ) tipo npn (ZTX 651) os quais foram irradiados com diferentes energias e taxas de doses (fontes de radiação gama do cobalto-60 e césio-137). Após a irradiação, esses transistores foram utilizados na montagem do circuito diferencial do AOP. Os resultados evidenciaram a diminuição do ganho do TBJ após cada dose de radiação gama de forma linear, o que implica dizer que o TBJ também pode ser utilizado na dosimetria gama. Já as tensões de offset no circuito do AOP discreto utilizado reduziram, com a utilização da radiação gama, da ordem de centena para dezena de milivolts. Conclui-se, portanto, que o método proposto não apenas oferece uma nova abordagem para ajuste de offset em AOPs, como também abre novas perspectivas para aplicações em dosimetria de radiação. Contudo, destaca-se que o tema ainda não se encontra esgotado: há espaço para otimizações, tanto na metodologia quanto na exploração de outros dispositivos eletrônicos, como transistores de efeito de campo (FETs), que poderão expandir ainda mais as aplicações e a eficiência da técnica desenvolvida.Studies on the interaction of ionizing radiation with transistors have been developed in recent years, involving both the degradation of these devices and their use as radiation detectors. The signals produced in various electronic devices, such as radiation detectors, are very low and need to be amplified before being processed. Due to their importance and wide applicability in analog integrated circuits, operational amplifier (op-amp) circuits were used in this study. However, real op-amps present certain limitations that affect circuit design, with input offset voltage being one of the main imperfections in direct current operation. The primary cause of this imbalance is the mismatch of the transistors in the differential input stage of the amplifier. This work consisted in the development of an innovative method for adjusting the offset voltage in op-amps by using gamma radiation to match the current gain parameters of the input transistors of the op-amp circuit. For the studies carried out, NPN bipolar junction transistors (BJTs) (ZTX 651) were selected and irradiated with different energies and dose rates (using cobalt-60 and cesium-137 gamma radiation sources). After irradiation, these transistors were used in the assembly of the op- amp differential circuit. The results showed a linear decrease in the BJT current gain after each gamma radiation dose, implying that BJTs can also be used for gamma dosimetry. Furthermore, the offset voltages in the discrete op-amp circuit were reduced, using gamma radiation, from the order of hundreds to tens of millivolts. Therefore, it can be concluded that the proposed method not only offers a new approach for offset adjustment in op-amps but also opens new perspectives for applications in radiation dosimetry. Nonetheless, it is noteworthy that the topic is still far from exhausting: there is room for optimizations, both in methodology and in the exploration of other electronic devices, such as field-effect transistors (FETs), which could further expand the applications and efficiency of the developed technique.porUniversidade Federal de PernambucoPrograma de Pos Graduacao em Tecnologias Energeticas e NuclearUFPEBrasilhttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/info:eu-repo/semantics/embargoedAccessRadiação gamaTransistorAmplificador OperacionalUso da radiação gama para compensação da tensão de offset em amplificadores operacionaisinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesismestradoreponame:Repositório Institucional da UFPEinstname:Universidade Federal de Pernambuco (UFPE)instacron:UFPEORIGINALDISSERTAÇÃO Karina Ferreira dos Santos Carvalho.PDFDISSERTAÇÃO Karina Ferreira dos Santos Carvalho.PDFapplication/pdf2655620https://repositorio.ufpe.br/bitstream/123456789/64348/1/DISSERTA%c3%87%c3%83O%20Karina%20Ferreira%20dos%20Santos%20Carvalho.PDFaeefeca846af9f300b5a8cf19adc181eMD51LICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; 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