Caracterização de nanofilmes de óxido de zinco para detecção de feixe de raios x diagnóstico
| Ano de defesa: | 2013 |
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| Tipo de documento: | Dissertação |
| Tipo de acesso: | Acesso aberto |
| Idioma: | por |
| Instituição de defesa: |
Universidade Federal de Pernambuco
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| Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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| Departamento: |
Não Informado pela instituição
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| País: |
Não Informado pela instituição
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| Palavras-chave em Português: | |
| Link de acesso: | https://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/10109 |
Resumo: | O avanço da nanotecnologia estimula os pesquisadores a desenvolverem aplicações nas mais diversas áreas de conhecimento buscando a melhoria de técnicas de medição de diversas grandezas físicas, por exemplo, na dosimetria em radiodiagnóstico. Este trabalho se propôs a utilizar nanofilmes de óxido de zinco (ZnO) para aplicações dosimétricas em feixes de raios X diagnóstico. As amostras de nanofilmes foram fabricadas pela técnica de sputtering sendo depositados em substrato de vidro. Testes em um equipamento de raios X industrial, utilizando espectros de raios X padronizados determinados segundo a norma da comissão eletrotécnica internacional 61267(International Electrotechnical Commission, IEC), foram realizados para caracterizar os nanofilmes de ZnO em feixes de raios X diagnóstico. Os resultados demonstraram que o dispositivo desenvolvido é uma inovação ao estado da técnica no que concerne sua utilização nos procedimentos dosimétricos em feixes de raios X diagnósticos. |
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Caracterização de nanofilmes de óxido de zinco para detecção de feixe de raios x diagnósticoÓxido de Zincoraios XdosimetriaO avanço da nanotecnologia estimula os pesquisadores a desenvolverem aplicações nas mais diversas áreas de conhecimento buscando a melhoria de técnicas de medição de diversas grandezas físicas, por exemplo, na dosimetria em radiodiagnóstico. Este trabalho se propôs a utilizar nanofilmes de óxido de zinco (ZnO) para aplicações dosimétricas em feixes de raios X diagnóstico. As amostras de nanofilmes foram fabricadas pela técnica de sputtering sendo depositados em substrato de vidro. Testes em um equipamento de raios X industrial, utilizando espectros de raios X padronizados determinados segundo a norma da comissão eletrotécnica internacional 61267(International Electrotechnical Commission, IEC), foram realizados para caracterizar os nanofilmes de ZnO em feixes de raios X diagnóstico. Os resultados demonstraram que o dispositivo desenvolvido é uma inovação ao estado da técnica no que concerne sua utilização nos procedimentos dosimétricos em feixes de raios X diagnósticos.CNPqUniversidade Federal de PernambucoPereira dos Santos, Luiz Antônio Valença, Cláudia Patrícia Varela2015-03-03T13:06:01Z2015-03-03T13:06:01Z2013-01-31info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdfhttps://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/10109porAttribution-NonCommercial-NoDerivs 3.0 Brazilhttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/br/info:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UFPEinstname:Universidade Federal de Pernambuco (UFPE)instacron:UFPE2019-10-25T19:06:02Zoai:repositorio.ufpe.br:123456789/10109Repositório InstitucionalPUBhttps://repositorio.ufpe.br/oai/requestattena@ufpe.bropendoar:22212019-10-25T19:06:02Repositório Institucional da UFPE - Universidade Federal de Pernambuco (UFPE)false |
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