Estudo de propriedades magnéticas de filmes finos de cobalto sobre Si(111)

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2003
Autor(a) principal: Zagonel, Luiz Fernando
Orientador(a): Schmidt, Joao Edgar, Geshev, Julian Penkov
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Propriedades magnéticas
Cobalto
Silício
Filmes finos
Anisotropia magnética
Microscopia de força atômica
Difração de raios X
Microscopia de tunelamento
Efeito kerr otico
Magnetização
Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/3464
Resumo: O crescimento de lmes nos ferromagnéticos sobre uma superfícies vicinal induz uma anisotropia uniaxial que atua juntamente com a anisotropia magnetocrislanina. Neste estudo, lmes nos de Co foram depositados sobre Si(111) para investigar o papel dessa anisotropia nas propriedades magnéticas do lme. Os substratos foram preparados quimicamente via uma solução de NH4F e caracterizados via microscopia de força atômica. Os lmes, depositados via desbaste iônico, foram caracterizados estruturalmente via difratometria de raio-x e microscopia de tunelamento. As propriedades magnéticas foram determinadas via magnetometria a efeito Kerr magnetoóptico, onde observou-se a presen ça de uma anisotropia uniaxial dominante. Um modelo fenomelógico de reversão da magnetização via rotação coerente foi aplicado para ajustar as curvas de histerese, e as constantes de anisotropia uniaxial para cada espessura foram determinadas.
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