Técnica de explosão coulombiana por MEIS : caracterização avançada de filmes finos poliméricos e materiais nanoestruturados
| Ano de defesa: | 2025 |
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| Tipo de documento: | Dissertação |
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| Palavras-chave em Português: | |
| Palavras-chave em Inglês: | |
| Link de acesso: | http://hdl.handle.net/10183/302284 |
Resumo: | A espessura de um filme influencia diversas propriedades e usos, desde microeletrônica a materiais hospitalares. Portanto, a sua precisa determinação é de grande importância, especialmente para filmes ultrafinos na escala nanométrica. Uma das técnicas mais consolidadas de análise de superfície é a análise por feixe de íons, onde um feixe iônico interage com a amostra por meio de espalhamento inelástico. A inovação deste trabalho reside na proposta de medir a espessura e a densidade de filmes poliméricos por Medium Energy Ion Scattering (MEIS), já que outras técnicas utilizadas na literatura não conseguem determinar a densidade e espessura de forma independente, muitas vezes assumindo a priori uma densidade homogênea e semelhante à de bulk em toda a superfície do filme, o que nem sempre é verdade. O presente estudo determina a espessura de filmes finos poliméricos de poli(metil metacrilato) (PMMA) utilizando a técnica de Explosão Coulombiana através do MEIS com feixes de H+ 2 (100 keV/u) e HeH+ (50 keV/u). A técnica de explosão coulombiana utiliza o tempo de separação entre fragmentos de íons incidentes para determinar a espessura e a densidade de um filme fino. Para isso, utilizou-se três conjuntos de amostras. Os experimentos de explosão Coulombiana foram realizados com uma série de feixes moleculares e iônicos com várias energias, embora com energias por nucleon semelhantes em comparação com um único íon H+. Dentre os resultados para diferentes amostras de PMMA em Au/Ta/SiO2 e Au/Cr/SiO2 mostraram-se inconclusivos, enquanto amostras de Au/PMMA/Au/SiO2 apresentaram um valor médio de 76 Å para a explosão com feixe H+ 2 e 78 Å com o feixe HeH+. Os resultados diferem em 30 % da densidade nominal do PMMA (1,18g/cm3 ), sendo 0,8g/cm3 . |
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Pezzin, Leonardo KramerDias, Johnny FerrazGrande, Pedro Luis2026-03-18T08:03:28Z2025http://hdl.handle.net/10183/302284001301899A espessura de um filme influencia diversas propriedades e usos, desde microeletrônica a materiais hospitalares. Portanto, a sua precisa determinação é de grande importância, especialmente para filmes ultrafinos na escala nanométrica. Uma das técnicas mais consolidadas de análise de superfície é a análise por feixe de íons, onde um feixe iônico interage com a amostra por meio de espalhamento inelástico. A inovação deste trabalho reside na proposta de medir a espessura e a densidade de filmes poliméricos por Medium Energy Ion Scattering (MEIS), já que outras técnicas utilizadas na literatura não conseguem determinar a densidade e espessura de forma independente, muitas vezes assumindo a priori uma densidade homogênea e semelhante à de bulk em toda a superfície do filme, o que nem sempre é verdade. O presente estudo determina a espessura de filmes finos poliméricos de poli(metil metacrilato) (PMMA) utilizando a técnica de Explosão Coulombiana através do MEIS com feixes de H+ 2 (100 keV/u) e HeH+ (50 keV/u). A técnica de explosão coulombiana utiliza o tempo de separação entre fragmentos de íons incidentes para determinar a espessura e a densidade de um filme fino. Para isso, utilizou-se três conjuntos de amostras. Os experimentos de explosão Coulombiana foram realizados com uma série de feixes moleculares e iônicos com várias energias, embora com energias por nucleon semelhantes em comparação com um único íon H+. Dentre os resultados para diferentes amostras de PMMA em Au/Ta/SiO2 e Au/Cr/SiO2 mostraram-se inconclusivos, enquanto amostras de Au/PMMA/Au/SiO2 apresentaram um valor médio de 76 Å para a explosão com feixe H+ 2 e 78 Å com o feixe HeH+. Os resultados diferem em 30 % da densidade nominal do PMMA (1,18g/cm3 ), sendo 0,8g/cm3 .The thickness of a film influences various properties and applications, ranging from microelectronics to medical materials. Therefore, its precise determination is of great importance, especially for ultra-thin films on the nanometer scale. Thus, the consolidation and improvement of techniques for measuring thickness and density are of great relevance. One of the most important and established surface analysis techniques is ion beam analysis, where an ion beam interacts with the sample through inelastic scattering. The innovation of this work lies in the proposal to measure the thickness and density of polymeric films using MEIS, since other techniques in the literature cannot determine thickness and density independently, often assuming a priori a homogeneous density across the entire film surface, which is not always true. The present study determines the thickness of poly(methyl methacrylate) (PMMA) thin films using the Coulomb Explosion technique through MEIS with H+ 2 (100 keV/u) and HeH+ (50 keV/u) beams. The Coulomb explosion technique uses the separation time between incident ion fragments to determine the thickness and density of a thin film. To this end, three sets of samples were used. The Coulomb explosion experiments were performed with a series of molecular and ionic beams at various energies, although with similar energies per nucleon compared to a single H+ ion. The results for different PMMA samples on Au/Ta/SiO2 and Au/Cr/SiO2 were inconclusive, whereas Au/PMMA/Au/SiO2 samples yielded an average value of 76 Å and 78 Å for H+ 2 and HeH+ beams respectively. The results differ from the nominal density of PMMA (1.18g/cm3 ), as 0.8g/cm3.application/pdfporExplosão de CoulombFilmes finosPolimetilmetacrilatoCoulomb explosionThin filmsPMMATécnica de explosão coulombiana por MEIS : caracterização avançada de filmes finos poliméricos e materiais nanoestruturadosinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de FísicaPrograma de Pós-Graduação em Ciência dos MateriaisPorto Alegre, BR-RS2025mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSTEXT001301899.pdf.txt001301899.pdf.txtExtracted Texttext/plain110395http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/302284/2/001301899.pdf.txt11c3a95be86bbd6c20f8217116dcd4d0MD52ORIGINAL001301899.pdfTexto completoapplication/pdf3588984http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/302284/1/001301899.pdfb279c69373f18a6ef9f6c55d517ecbd0MD5110183/3022842026-03-19 08:01:59.975654oai:www.lume.ufrgs.br:10183/302284Repositório InstitucionalPUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.bropendoar:2026-03-19T11:01:59Repositório Institucional da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false |
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A espessura de um filme influencia diversas propriedades e usos, desde microeletrônica a materiais hospitalares. Portanto, a sua precisa determinação é de grande importância, especialmente para filmes ultrafinos na escala nanométrica. Uma das técnicas mais consolidadas de análise de superfície é a análise por feixe de íons, onde um feixe iônico interage com a amostra por meio de espalhamento inelástico. A inovação deste trabalho reside na proposta de medir a espessura e a densidade de filmes poliméricos por Medium Energy Ion Scattering (MEIS), já que outras técnicas utilizadas na literatura não conseguem determinar a densidade e espessura de forma independente, muitas vezes assumindo a priori uma densidade homogênea e semelhante à de bulk em toda a superfície do filme, o que nem sempre é verdade. O presente estudo determina a espessura de filmes finos poliméricos de poli(metil metacrilato) (PMMA) utilizando a técnica de Explosão Coulombiana através do MEIS com feixes de H+ 2 (100 keV/u) e HeH+ (50 keV/u). A técnica de explosão coulombiana utiliza o tempo de separação entre fragmentos de íons incidentes para determinar a espessura e a densidade de um filme fino. Para isso, utilizou-se três conjuntos de amostras. Os experimentos de explosão Coulombiana foram realizados com uma série de feixes moleculares e iônicos com várias energias, embora com energias por nucleon semelhantes em comparação com um único íon H+. Dentre os resultados para diferentes amostras de PMMA em Au/Ta/SiO2 e Au/Cr/SiO2 mostraram-se inconclusivos, enquanto amostras de Au/PMMA/Au/SiO2 apresentaram um valor médio de 76 Å para a explosão com feixe H+ 2 e 78 Å com o feixe HeH+. Os resultados diferem em 30 % da densidade nominal do PMMA (1,18g/cm3 ), sendo 0,8g/cm3 . |
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