Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2009
Autor(a) principal: Morais, Antonio Higor Freire de
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Universidade Federal do Rio Grande do Norte
BR
UFRN
Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
Automação e Sistemas; Engenharia de Computação; Telecomunicações
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Tolerância a falha
Sistemas embarcados
FPGA
Fault Tolerant
Embedded Systems
FPGA.
CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA
Link de acesso: https://repositorio.ufrn.br/jspui/handle/123456789/15284
Resumo: The semiconductor technologies evolutions leads devices to be developed with higher processing capability. Thus, those components have been used widely in more fields. Many industrial environment such as: oils, mines, automotives and hospitals are frequently using those devices on theirs process. Those industries activities are direct related to environment and health safe. So, it is quite important that those systems have extra safe features yield more reliability, safe and availability. The reference model eOSI that will be presented by this work is aimed to allow the development of systems under a new view perspective which can improve and make simpler the choice of strategies for fault tolerant. As a way to validate the model na architecture FPGA-based was developed.
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