Uma sistemática para garantia da qualidade metrológica aplicada em ambiente industrial

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2005
Autor(a) principal: Silva, Anderson Cesar da
Orientador(a): Donatelli, Gustavo Daniel
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Florianópolis, SC
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Link de acesso: http://repositorio.ufsc.br/handle/123456789/101834
Resumo: Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial.
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