Caracterização ótica de filmes finos de CdMnTe crescidos pela técnica de Epitaxia por Feixe Molecular

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2012
Autor(a) principal: Silva, Saimon Filipe Covre da
Orientador(a): Ferreira, Sukarno Olavo lattes
Banca de defesa: Anjos, Virgilio de Carvalho dos lattes, Carvalho, Alexandre Tadeu Gomes lattes
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Universidade Federal de Viçosa
Programa de Pós-Graduação: Mestrado em Física Aplicada
Departamento: Física Teórica e Computacional; Preparação e Caracterização de Materiais; Sensores e Dispositivos.
País: BR
Palavras-chave em Português:
Caracterização ótica
Epitaxia
MBE
Elipsometria
CdMnTe
Palavras-chave em Inglês:
Optical characterization
Epitaxy
MBE
Ellipsometry
CdMnTe
Área do conhecimento CNPq:
CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADA
Link de acesso: http://locus.ufv.br/handle/123456789/4259
Resumo: This work consists of the optical characterization of CdMnTe films grown on glass substrate. The films were deposited by the technique of molecular beam epitaxy (MBE) and characterized by optical spectroscopy and ellipsometry. The energy gap for films with different manganese concentration was determined. We demonstrate the increase in gap energy as concentration of manganese increases. The pronounced interference fringes observed show the good optical quality of the films grown. By ellipsometry technique we can observe the behavior of the refractive index and extinction coefficients a function of manganese concentration. We have also obtained values of sample thickness and growth rate.
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