Desenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linear

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 1993
Autor(a) principal: Duarte, Alexandre Silva
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: [s.n.]
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Refração
Semicondutores
Vidro
Link de acesso: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1580712
Resumo: Orientador: Hugo Luis Fragnito
id UNICAMP-30_d9dc0aac1cebc95c55e88be50ca44aed
oai_identifier_str oai::65258
network_acronym_str UNICAMP-30
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
repository_id_str
spelling Desenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linearRefraçãoSemicondutoresVidroOrientador: Hugo Luis FragnitoDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb WataghinResumo: Neste trabalho desenvolvemos um sistema de medição de índice de refração não linear n2, utilizando a técnica de varredura-Z. Com laser de Nd:YAG (l = 1.06mm). Medidas absolutas de n2 são possíveis com erro de ±10% entanto que, para medidas relativas, o erro é menor que ±0.5%. Mostramos que o alinhamento e calibração de todo sistema óptico e de medição, bem como um perfeito polimento da superfície da amostra são de importância fundamental para se conseguir medidas sensíveis, confiáveis e reprodutíveis. Fizemos medidas em vidros dopados com semicondutores (VDS) da Corning Glass ( CdSxSe1-x) e em (VDS) produzidos em nossos laboratórios (CdTe). Nos vidros da Corning obtivemos n2 de 3.7 a 6.1 X 10-15 cm2/W. Para as amostras de CdTe obtivemos n2 de 1.5 a 5.1 x10-14 cm2/W. Os grande valores de n2 observados nestes últimos são devidas a uma não linearidade ressonante de dois fótonsAbstract: In this work we have developed a system to measure the nonlinear refractive index n2 using the Z-scan technique. The incertainty in absolute measurements of n2 is ± 10% and in relative measurements is less than ± 0.5%. We show that the alignment and calibration of the whole optical and measuring system, as well as an accurate polishing of the sample surface are of fundamental importance to achieve sensitive, trustable and reproducible measurements. We have performed measurements in commercial semiconductor doped glasses (SDG) from Corning Glass (CdSxSe1-x) and in SDG samples prepared in our laboratories (CdTe). In the Corning samples we have obtained n2 ranging from 3.7 to 6.1 X 10-15 cm2/W .For CdTe samples we have obtained n2 ranging from 1.5 to 5.1 x 10-14 cm2/W .The large values of n2 observed in this ast material is due a resonant enhancement of the nonlinearity two photonMestradoFísicaMestre em Física[s.n.]Fragnito, Hugo Luis, 1950-Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Física Gleb WataghinPrograma de Pós-Graduação em FísicaUNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINASDuarte, Alexandre Silva19931993-09-23T00:00:00Zinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdf80f. : il.https://hdl.handle.net/20.500.12733/1580712DUARTE, Alexandre Silva. Desenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linear. 1993. 80f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1580712. Acesso em: 27 fev. 2025.https://repositorio.unicamp.br/acervo/detalhe/65258porreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instname:Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instacron:UNICAMPinfo:eu-repo/semantics/openAccess2015-02-23T10:39:08Zoai::65258Biblioteca Digital de Teses e DissertaçõesPUBhttp://repositorio.unicamp.br/oai/tese/oai.aspsbubd@unicamp.bropendoar:2015-02-23T10:39:08Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)false
dc.title.none.fl_str_mv Desenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linear
title Desenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linear
spellingShingle Desenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linear
Duarte, Alexandre Silva
Refração
Semicondutores
Vidro
title_short Desenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linear
title_full Desenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linear
title_fullStr Desenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linear
title_full_unstemmed Desenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linear
title_sort Desenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linear
author Duarte, Alexandre Silva
author_facet Duarte, Alexandre Silva
author_role author
dc.contributor.none.fl_str_mv Fragnito, Hugo Luis, 1950-
Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Física Gleb Wataghin
Programa de Pós-Graduação em Física
UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS
dc.contributor.author.fl_str_mv Duarte, Alexandre Silva
dc.subject.por.fl_str_mv Refração
Semicondutores
Vidro
topic Refração
Semicondutores
Vidro
description Orientador: Hugo Luis Fragnito
publishDate 1993
dc.date.none.fl_str_mv 1993
1993-09-23T00:00:00Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv https://hdl.handle.net/20.500.12733/1580712
DUARTE, Alexandre Silva. Desenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linear. 1993. 80f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1580712. Acesso em: 27 fev. 2025.
url https://hdl.handle.net/20.500.12733/1580712
identifier_str_mv DUARTE, Alexandre Silva. Desenvolvimento de um sistema de medição do índice de refração não linear. 1993. 80f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1580712. Acesso em: 27 fev. 2025.
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.relation.none.fl_str_mv https://repositorio.unicamp.br/acervo/detalhe/65258
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
80f. : il.
dc.publisher.none.fl_str_mv [s.n.]
publisher.none.fl_str_mv [s.n.]
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
instname:Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
instacron:UNICAMP
instname_str Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
instacron_str UNICAMP
institution UNICAMP
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
repository.mail.fl_str_mv sbubd@unicamp.br
_version_ 1829137352449064960

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