Produção, caracterização e dopagem de filmes finos de óxido de zinco sobre substrato de AU

• Ano de defesa: 2023
• Autor(a) principal: Fernandes, Rejane Tellechea
• Orientador(a): Gündel, André
• Banca de defesa: Gündel, André, Avellaneda, César Antonio Oropesa, Galio, Alexandre Ferreira
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Universidade Federal do Pampa
• Programa de Pós-Graduação: Mestrado em Ciência e Engenharia de Materiais
• Departamento: Campus Bagé
• País: Brasil
• Palavras-chave em Português: Células fotovoltaicas; Filmes finos de ZnO; Dopagem de ZnO; CDtrodo; Difratometria de raios X; Microscopia de força atômica; Caracterização fotoeletroquímica; Photovoltaic cells; ZnO thin films; ZnO doping; CDtrodes; X-ray diffraction; Atomic force microscopy; Photoelectrochemical characterization
• Área do conhecimento CNPq: CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA
• Link de acesso: https://repositorio.unipampa.edu.br/jspui/handle/riu/8188

Como fonte de energia limpa e abundante, a luz solar convertida em eletricidade é uma realidade crescente, que vem substituindo o uso de combustíveis fósseis. Dentre os diversos tipos de células solares, que são dispositivos produzidos com material semicondutor capaz de converter a energia solar em energia elétrica, as baseadas em filmes finos apresentam grande potencial de fabricação em escala industrial pela facilidade e relativo baixo custo de produção, motivo pelo qual muitos pesquisadores empenham-se no avanço desta tecnologia. Este trabalho tem como objetivo a produção e caracterização de filmes finos de óxido de Zinco (ZnO) e óxido de zinco dopado com alumínio (AZO), para possível aplicação em células solares. Para o desenvolvimento deste estudo, o ZnO foi sintetizado pela técnica de eletrodeposição, sobre substratos de ouro de fácil obtenção (CDtrodos), para o qual foram testadas duas soluções eletrolíticas, variações no tempo, temperatura e potenciais de deposição e dopagem com diferentes concentrações de alumínio. A caracterização estrutural dos filmes produzidos foi realizada por difratometria de raios X (DRX), a morfológica por microscopia de força atômica (AFM) e a análise da estabilidade e do caráter semicondutor obtido, por medidas fotoeletroquímicas (PEC). Espera-se com esse trabalho colaborar com as pesquisas de desenvolvimento da segunda geração de células fotovoltaicas, baseadas em filmes finos de semicondutores, tendo em vista o avanço tecnológico desses promissores dispositivos.