Teste de amplificadores diferenciais através de medida DC e transiente de tensões internas de polarização

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2015
Autor(a) principal: Bender, Isis Duarte
Orientador(a): Balen, Tiago Roberto
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Microeletrônica
Amplificadores
Palavras-chave em Inglês:
Analog test
DC test
Transient test
Fully differential amplifiers
Common mode feedback
Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/131040
Resumo: Este trabalho apresenta estudos voltados ao teste de Amplificadores Diferenciais. No primeiro momento, por meio de simulações SPICE, falhas catastróficas são injetadas em dois Amplificadores Diferenciais, projetados para uma tecnologia CMOS de 0,5m com configurações complementares, a fim de comprovar a ocorrência de variações nas tensões DC dos nós do circuito sob teste à medida que há injeções de falhas no mesmo. Também se faz análises preliminares dos resultados para verificar a possibilidade de diagnosticar as falhas através de assinaturas compostas pela digitalização (em um bit) dos valores DC dos nós do circuito sob teste. Posteriormente, é desenvolvida uma metodologia de teste simples e com baixo custo, aplicável a Amplificadores Totalmente Diferenciais. Considerando a necessidade do Circuito de Realimentação de Modo Comum para manter o controle do modo comum das saídas, é proposta a reutilização deste circuito como verificador, possibilitando a observação de falhas ocorridas tanto no Amplificador quanto no próprio bloco de CMFB. Falhas catastróficas e paramétricas são injetadas, por simulação, em dois amplificadores totalmente diferenciais, um projetado em 180nm e outro em 130nm. Testes DC e transientes são realizados e a cobertura de falhas é avaliada. Os resultados das simulações apontam boa cobertura de falhas, enquanto apenas os sinais de realimentação de modo comum precisam ser monitorados. Dessa forma é proposta uma estratégia de teste que apresenta um baixo custo e uma baixa sobrecarga de área do circuito.
id URGS_2bc4c5a2856a15c79e413dd5176e7c71
oai_identifier_str oai:www.lume.ufrgs.br:10183/131040
network_acronym_str URGS
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
repository_id_str
spelling Bender, Isis DuarteBalen, Tiago Roberto2015-12-12T02:39:48Z2015http://hdl.handle.net/10183/131040000980109Este trabalho apresenta estudos voltados ao teste de Amplificadores Diferenciais. No primeiro momento, por meio de simulações SPICE, falhas catastróficas são injetadas em dois Amplificadores Diferenciais, projetados para uma tecnologia CMOS de 0,5m com configurações complementares, a fim de comprovar a ocorrência de variações nas tensões DC dos nós do circuito sob teste à medida que há injeções de falhas no mesmo. Também se faz análises preliminares dos resultados para verificar a possibilidade de diagnosticar as falhas através de assinaturas compostas pela digitalização (em um bit) dos valores DC dos nós do circuito sob teste. Posteriormente, é desenvolvida uma metodologia de teste simples e com baixo custo, aplicável a Amplificadores Totalmente Diferenciais. Considerando a necessidade do Circuito de Realimentação de Modo Comum para manter o controle do modo comum das saídas, é proposta a reutilização deste circuito como verificador, possibilitando a observação de falhas ocorridas tanto no Amplificador quanto no próprio bloco de CMFB. Falhas catastróficas e paramétricas são injetadas, por simulação, em dois amplificadores totalmente diferenciais, um projetado em 180nm e outro em 130nm. Testes DC e transientes são realizados e a cobertura de falhas é avaliada. Os resultados das simulações apontam boa cobertura de falhas, enquanto apenas os sinais de realimentação de modo comum precisam ser monitorados. Dessa forma é proposta uma estratégia de teste que apresenta um baixo custo e uma baixa sobrecarga de área do circuito.This work presents a study related to the testing of Differential Amplifiers. Firstly, by means of SPICE simulations, catastrophic faults are injected in two complementary Differential Amplifiers, designed considering a 0,5μm CMOS technology, in order to prove the concept of testing the circuit by checking the occurrence of variations in the DC voltage of the circuit internal nodes due to the injected faults. The possibility of diagnosing faults using a digitized representation of the DC values of the observed nodes of the circuit was also investigated. Then, a simple and cost-effective test methodology for Fully Differential Amplifiers (FDA) is proposed. Considering the need of the common mode feedback circuit to maintain the control of the common mode output voltage, it is proposed to re-use this circuit as a checker, allowing the observation of faults in both the amplifier itself and the CMFB block. Catastrophic and parametric faults are injected in two FDAs, designed in 180nm and 130nm technology respectively. DC and transient tests are performed and the fault coverage is evaluated. The simulation results indicate high fault coverage, while only the signals from the common mode feedback need to be monitored. This way a low cost and low overhead test methodology is proposed.application/pdfporMicroeletrônicaAmplificadoresAnalog testDC testTransient testFully differential amplifiersCommon mode feedbackTeste de amplificadores diferenciais através de medida DC e transiente de tensões internas de polarizaçãoinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de InformáticaPrograma de Pós-Graduação em MicroeletrônicaPorto Alegre, BR-RS2015mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL000980109.pdf000980109.pdfTexto completoapplication/pdf1088825http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/131040/1/000980109.pdf71d79dc5a50e3b0810f97b730815ba75MD51TEXT000980109.pdf.txt000980109.pdf.txtExtracted Texttext/plain150047http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/131040/2/000980109.pdf.txt5c679fa8279086f23c1e03a830bc0d51MD52THUMBNAIL000980109.pdf.jpg000980109.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1093http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/131040/3/000980109.pdf.jpgf52ec67588722f4ff6c69034dee43ca6MD5310183/1310402018-10-25 09:47:58.849oai:www.lume.ufrgs.br:10183/131040Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532018-10-25T12:47:58Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
dc.title.pt_BR.fl_str_mv Teste de amplificadores diferenciais através de medida DC e transiente de tensões internas de polarização
title Teste de amplificadores diferenciais através de medida DC e transiente de tensões internas de polarização
spellingShingle Teste de amplificadores diferenciais através de medida DC e transiente de tensões internas de polarização
Bender, Isis Duarte
Microeletrônica
Amplificadores
Analog test
DC test
Transient test
Fully differential amplifiers
Common mode feedback
title_short Teste de amplificadores diferenciais através de medida DC e transiente de tensões internas de polarização
title_full Teste de amplificadores diferenciais através de medida DC e transiente de tensões internas de polarização
title_fullStr Teste de amplificadores diferenciais através de medida DC e transiente de tensões internas de polarização
title_full_unstemmed Teste de amplificadores diferenciais através de medida DC e transiente de tensões internas de polarização
title_sort Teste de amplificadores diferenciais através de medida DC e transiente de tensões internas de polarização
author Bender, Isis Duarte
author_facet Bender, Isis Duarte
author_role author
dc.contributor.author.fl_str_mv Bender, Isis Duarte
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Balen, Tiago Roberto
contributor_str_mv Balen, Tiago Roberto
dc.subject.por.fl_str_mv Microeletrônica
Amplificadores
topic Microeletrônica
Amplificadores
Analog test
DC test
Transient test
Fully differential amplifiers
Common mode feedback
dc.subject.eng.fl_str_mv Analog test
DC test
Transient test
Fully differential amplifiers
Common mode feedback
description Este trabalho apresenta estudos voltados ao teste de Amplificadores Diferenciais. No primeiro momento, por meio de simulações SPICE, falhas catastróficas são injetadas em dois Amplificadores Diferenciais, projetados para uma tecnologia CMOS de 0,5m com configurações complementares, a fim de comprovar a ocorrência de variações nas tensões DC dos nós do circuito sob teste à medida que há injeções de falhas no mesmo. Também se faz análises preliminares dos resultados para verificar a possibilidade de diagnosticar as falhas através de assinaturas compostas pela digitalização (em um bit) dos valores DC dos nós do circuito sob teste. Posteriormente, é desenvolvida uma metodologia de teste simples e com baixo custo, aplicável a Amplificadores Totalmente Diferenciais. Considerando a necessidade do Circuito de Realimentação de Modo Comum para manter o controle do modo comum das saídas, é proposta a reutilização deste circuito como verificador, possibilitando a observação de falhas ocorridas tanto no Amplificador quanto no próprio bloco de CMFB. Falhas catastróficas e paramétricas são injetadas, por simulação, em dois amplificadores totalmente diferenciais, um projetado em 180nm e outro em 130nm. Testes DC e transientes são realizados e a cobertura de falhas é avaliada. Os resultados das simulações apontam boa cobertura de falhas, enquanto apenas os sinais de realimentação de modo comum precisam ser monitorados. Dessa forma é proposta uma estratégia de teste que apresenta um baixo custo e uma baixa sobrecarga de área do circuito.
publishDate 2015
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2015-12-12T02:39:48Z
dc.date.issued.fl_str_mv 2015
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/10183/131040
dc.identifier.nrb.pt_BR.fl_str_mv 000980109
url http://hdl.handle.net/10183/131040
identifier_str_mv 000980109
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
instname_str Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron_str UFRGS
institution UFRGS
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
bitstream.url.fl_str_mv http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/131040/1/000980109.pdf
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/131040/2/000980109.pdf.txt
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/131040/3/000980109.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv 71d79dc5a50e3b0810f97b730815ba75
5c679fa8279086f23c1e03a830bc0d51
f52ec67588722f4ff6c69034dee43ca6
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
repository.mail.fl_str_mv lume@ufrgs.br||lume@ufrgs.br
_version_ 1831315980381323264

Registros relacionados