Exportação concluída — 

Proposal of two solutions to cope with the faulty behavior of circuits in future technologies

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2007
Autor(a) principal: Rhod, Eduardo Luis
Orientador(a): Carro, Luigi
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: eng
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Microeletrônica
Tolerância a falhas
Palavras-chave em Inglês:
Fault tolerant architectures
Memory based architectures
Reliable SoCs
Error detection techniques
Soft error rate
Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/16086
Resumo: A diminuição no tamanho dos dispositivos nas tecnologias do futuro traz consigo um grande aumento na taxa de erros dos circuitos, na lógica combinacional e seqüencial. Apesar de algumas potenciais soluções começarem a ser investigadas pela comunidade, a busca por circuitos tolerantes a erros induzidos por radiação, sem penalidades no desempenho, área ou potência, ainda é um assunto de pesquisa em aberto. Este trabalho propõe duas soluções para lidar com este comportamento imprevisível das tecnologias futuras: a primeira solução, chamada MemProc, é uma arquitetura baseada em memória que propõe reduzir a taxa de falhas de aplicações embarcadas micro-controladas. Esta solução baseia-se no uso de memórias magnéticas, que são tolerantes a falhas induzidas por radiação, e área de circuito combinacional reduzida para melhorar a confiabilidade ao processar quaisquer aplicações. A segunda solução proposta aqui é uma implementação de um IP de infra-estrutura para o processador MIPS indicada para sistemas em chip confiáveis, devido a sua adaptação rápida e por permitir diferentes níveis de robustez para a aplicação. A segunda solução é também indicada para sistemas em que nem o hardware nem o software podem ser modificados. Os resultados dos experimentos mostram que ambas as soluções melhoram a confiabilidade do sistema que fazem parte com custos aceitáveis e até, no caso da MemProc, melhora o desempenho da aplicação.
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spelling Rhod, Eduardo LuisCarro, Luigi2009-06-09T04:13:04Z2007http://hdl.handle.net/10183/16086000696574A diminuição no tamanho dos dispositivos nas tecnologias do futuro traz consigo um grande aumento na taxa de erros dos circuitos, na lógica combinacional e seqüencial. Apesar de algumas potenciais soluções começarem a ser investigadas pela comunidade, a busca por circuitos tolerantes a erros induzidos por radiação, sem penalidades no desempenho, área ou potência, ainda é um assunto de pesquisa em aberto. Este trabalho propõe duas soluções para lidar com este comportamento imprevisível das tecnologias futuras: a primeira solução, chamada MemProc, é uma arquitetura baseada em memória que propõe reduzir a taxa de falhas de aplicações embarcadas micro-controladas. Esta solução baseia-se no uso de memórias magnéticas, que são tolerantes a falhas induzidas por radiação, e área de circuito combinacional reduzida para melhorar a confiabilidade ao processar quaisquer aplicações. A segunda solução proposta aqui é uma implementação de um IP de infra-estrutura para o processador MIPS indicada para sistemas em chip confiáveis, devido a sua adaptação rápida e por permitir diferentes níveis de robustez para a aplicação. A segunda solução é também indicada para sistemas em que nem o hardware nem o software podem ser modificados. Os resultados dos experimentos mostram que ambas as soluções melhoram a confiabilidade do sistema que fazem parte com custos aceitáveis e até, no caso da MemProc, melhora o desempenho da aplicação.Device scaling in new and future technologies brings along severe increase in the soft error rate of circuits, for combinational and sequential logic. Although potential solutions are being investigated by the community, the search for circuits tolerant to radiation induced errors, without performance, area, or power penalties, is still an open research issue. This work proposes two solutions to cope with this unpredictable behavior of future technologies: the first solution, called MemProc, is a memory based architecture proposed to reduce the fault rate of embedded microcontrolled applications. This solution relies in the use magnetic memories, which are tolerant to radiation induced failures, and reduced combinational circuit area to improve the reliability when processing any application. The second solution proposed here is an infrastructure IP implementation for the MIPS architecture indicated for reliable systems-on-chip due to its fast adaptation and different levels of application hardening that are allowed. The second solution is also indicated for systems where neither the hardware nor the software can be modified. The experimental results show that both solutions improve the reliability of the system they take part with affordable overheads and even, as in the case of the MemProc solution, improving the performance results.application/pdfengMicroeletrônicaTolerância a falhasFault tolerant architecturesMemory based architecturesReliable SoCsError detection techniquesSoft error rateProposal of two solutions to cope with the faulty behavior of circuits in future technologiesinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulEscola de EngenhariaPrograma de Pós-Graduação em Engenharia ElétricaPorto Alegre, BR-RS2007mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL000696574.pdf000696574.pdfTexto completo (inglês)application/pdf3000531http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/16086/1/000696574.pdf6ad88bcd6b3c30e823902d9e1a9e4adeMD51TEXT000696574.pdf.txt000696574.pdf.txtExtracted Texttext/plain360327http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/16086/2/000696574.pdf.txt5a2aecf7659b9c442b0d70b9920c23ffMD52THUMBNAIL000696574.pdf.jpg000696574.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1075http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/16086/3/000696574.pdf.jpgd40a1bf0516471808a24c64274b27837MD5310183/160862021-05-26 04:30:36.405937oai:www.lume.ufrgs.br:10183/16086Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532021-05-26T07:30:36Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
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