Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 1986
Autor(a) principal: Orellana Hurtado, Carlos Jesus
Orientador(a): Susin, Altamiro Amadeu
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Microeletrônica
Testes : Circuitos integrados
Microscopio eletronico : Varredura
Depuração : Circuitos integrados
Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/2245
Resumo: O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando facilitar a depuração dos circuitos. Embora tenham sido utilizados circuitos NMOS para realizar as experiências, a técnica é aplicável a circuitos MOS em geral. Resultados experimentais, utilizando circuitos projetados no PGCC, são apresentados.
id URGS_4f1f06345f71a4caf430b24449ba1030
oai_identifier_str oai:www.lume.ufrgs.br:10183/2245
network_acronym_str URGS
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
repository_id_str
spelling Orellana Hurtado, Carlos JesusSusin, Altamiro AmadeuReis, Ricardo Augusto da LuzWagner, Tiaraju Vasconcellos2007-06-06T17:21:00Z1986http://hdl.handle.net/10183/2245000316300O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando facilitar a depuração dos circuitos. Embora tenham sido utilizados circuitos NMOS para realizar as experiências, a técnica é aplicável a circuitos MOS em geral. Resultados experimentais, utilizando circuitos projetados no PGCC, são apresentados.application/pdfporMicroeletrônicaTestes : Circuitos integradosMicroscopio eletronico : VarreduraDepuração : Circuitos integradosUma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônicoinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de InformáticaCurso de Pós-Graduação em Ciência da ComputaçãoPorto Alegre, BR-RS1986mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL000316300.pdf000316300.pdfTexto completoapplication/pdf15484068http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/2245/1/000316300.pdf403d2c793bcb7201e1011478fee276bbMD51TEXT000316300.pdf.txt000316300.pdf.txtExtracted Texttext/plain128065http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/2245/2/000316300.pdf.txtb43adace9b5f22111650a64107d2f428MD52THUMBNAIL000316300.pdf.jpg000316300.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1257http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/2245/3/000316300.pdf.jpgebc97403361ad2bfeb4a4454eb5a5230MD5310183/22452018-10-08 08:34:52.299oai:www.lume.ufrgs.br:10183/2245Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532018-10-08T11:34:52Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
dc.title.pt_BR.fl_str_mv Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico
title Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico
spellingShingle Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico
Orellana Hurtado, Carlos Jesus
Microeletrônica
Testes : Circuitos integrados
Microscopio eletronico : Varredura
Depuração : Circuitos integrados
title_short Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico
title_full Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico
title_fullStr Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico
title_full_unstemmed Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico
title_sort Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico
author Orellana Hurtado, Carlos Jesus
author_facet Orellana Hurtado, Carlos Jesus
author_role author
dc.contributor.author.fl_str_mv Orellana Hurtado, Carlos Jesus
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Susin, Altamiro Amadeu
dc.contributor.advisor-co1.fl_str_mv Reis, Ricardo Augusto da Luz
Wagner, Tiaraju Vasconcellos
contributor_str_mv Susin, Altamiro Amadeu
Reis, Ricardo Augusto da Luz
Wagner, Tiaraju Vasconcellos
dc.subject.por.fl_str_mv Microeletrônica
Testes : Circuitos integrados
Microscopio eletronico : Varredura
Depuração : Circuitos integrados
topic Microeletrônica
Testes : Circuitos integrados
Microscopio eletronico : Varredura
Depuração : Circuitos integrados
description O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando facilitar a depuração dos circuitos. Embora tenham sido utilizados circuitos NMOS para realizar as experiências, a técnica é aplicável a circuitos MOS em geral. Resultados experimentais, utilizando circuitos projetados no PGCC, são apresentados.
publishDate 1986
dc.date.issued.fl_str_mv 1986
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2007-06-06T17:21:00Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/10183/2245
dc.identifier.nrb.pt_BR.fl_str_mv 000316300
url http://hdl.handle.net/10183/2245
identifier_str_mv 000316300
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
instname_str Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron_str UFRGS
institution UFRGS
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
bitstream.url.fl_str_mv http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/2245/1/000316300.pdf
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/2245/2/000316300.pdf.txt
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/2245/3/000316300.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv 403d2c793bcb7201e1011478fee276bb
b43adace9b5f22111650a64107d2f428
ebc97403361ad2bfeb4a4454eb5a5230
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
repository.mail.fl_str_mv lume@ufrgs.br||lume@ufrgs.br
_version_ 1831315785997352960

Registros relacionados