Métodos de teste de redes-em-chip (NoCs)

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2009
Autor(a) principal: Hervé, Marcos Barcellos
Orientador(a): Lubaszewski, Marcelo Soares
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Microeletrônica
Testes : Sistemas digitais
Palavras-chave em Inglês:
Networks-on-chip
Test
Fault location
Routers
Interconnections
Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/25498
Resumo: Este trabalho tem como objetivo estudar e propor métodos de teste funcional visando a detecção e localização de falhas na infra-estrutura das redes-em-chip. Para isso, o trabalho apresenta, inicialmente, uma descrição das principais características das redes-em-chip, explicando o que elas são e para que elas servem. Em seguida são apresentados conceitos de teste de circuitos integrados, bem como trabalhos relacionados ao teste das redes-em-chip. Um método de teste visando a detecção de falhas nas interconexões de dados de uma NoC é apresentado no trabalho, sendo este método posteriormente estendido para incluir as interconexões de controle. Os circuitos de teste necessários para implementar a estratégia de teste proposta também são descritos. A partir do método de teste apresentado, é feito um estudo sobre sua capacidade de localização de falhas, onde alterações visando o aumento dessa capacidade de localização de falhas são propostas. Por fim o método de teste é estendido para detecção de falhas nos roteadores da rede.
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spelling Hervé, Marcos BarcellosLubaszewski, Marcelo Soares2010-09-02T04:18:50Z2009http://hdl.handle.net/10183/25498000751072Este trabalho tem como objetivo estudar e propor métodos de teste funcional visando a detecção e localização de falhas na infra-estrutura das redes-em-chip. Para isso, o trabalho apresenta, inicialmente, uma descrição das principais características das redes-em-chip, explicando o que elas são e para que elas servem. Em seguida são apresentados conceitos de teste de circuitos integrados, bem como trabalhos relacionados ao teste das redes-em-chip. Um método de teste visando a detecção de falhas nas interconexões de dados de uma NoC é apresentado no trabalho, sendo este método posteriormente estendido para incluir as interconexões de controle. Os circuitos de teste necessários para implementar a estratégia de teste proposta também são descritos. A partir do método de teste apresentado, é feito um estudo sobre sua capacidade de localização de falhas, onde alterações visando o aumento dessa capacidade de localização de falhas são propostas. Por fim o método de teste é estendido para detecção de falhas nos roteadores da rede.The purpose of this work is to study and propose functional test methods that aim the detection and location of faults in the NoC’s infrastructure. In order to do so, this work presents, initially, a description of the main characteristics of networks-on-chip, explaining what are NoCs and what is their purpose. Fallowing this description, some concepts related to the test of integrated circuits are presented as well as related works on NoC testing. A method aiming the detection of data interconnect faults in a NoC is presented in this work. This method is later extended to include faults in the control interconnections as well. The circuits used to implement the proposed strategy are also described here. Based on the proposed test strategy, the method’s capability to locate faults is studied. Changes are proposed to the test method in order to increase this fault location capability. Finally, the test method is extended to include faults inside the router’s logic.application/pdfporMicroeletrônicaTestes : Sistemas digitaisNetworks-on-chipTestFault locationRoutersInterconnectionsMétodos de teste de redes-em-chip (NoCs)info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de InformáticaInstituto de FísicaInstituto de QuímicaEscola de EngenhariaPrograma de Pós-Graduação em MicroeletrônicaPorto Alegre, BR-RS2009mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSTEXT000751072.pdf.txt000751072.pdf.txtExtracted Texttext/plain225428http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/25498/2/000751072.pdf.txt484f1ae99e9362e5aef57126e5a43edcMD52ORIGINAL000751072.pdf000751072.pdfTexto completoapplication/pdf983382http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/25498/1/000751072.pdf06341ddf7920e558d4d6949ac11101a7MD51THUMBNAIL000751072.pdf.jpg000751072.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1063http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/25498/3/000751072.pdf.jpg704d9567ecd8281b4e29ee3c75035233MD5310183/254982018-10-17 08:39:30.235oai:www.lume.ufrgs.br:10183/25498Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532018-10-17T11:39:30Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
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