Uso de redundância modular tripla aproximada para tolerância a falhas em circuitos digitais

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2014
Autor(a) principal: Gomes, Iuri Albandes Cunha
Orientador(a): Kastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Microeletrônica
Circuitos digitais
Tolerancia : Falhas
Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/99056
Resumo: Este trabalho consiste no estudo acerca da técnica de redundância modular tripla usando circuitos aproximados para tolerância a falhas transientes em circuitos digitais. O uso da técnica redundância modular tripla tradicional, conhecida como TMR, garante mascaramento lógico total contra falhas transiente únicas para um dado circuito. No entanto a técnica TMR apresenta um custo extra em área de no mínimo 200% quando comparado com o circuito original. De modo a reduzir o custo extra em área sem comprometer significativamente a cobertura de falhas, a TMR pode usar uma abordagem de circuitos aproximados para gerar módulos redundantes, estes sendo otimizados em área quando comparados com o módulo original. Estudos iniciais desta técnica demonstraram que é possível obter um bom equilíbrio entre custo extra de área e capacidade de mascaramento de falhas. Neste trabalho, aprofundamos a análise desta abordagem utilizando um novo método para computar as funções lógicas aproximadas e a seleção da melhor composição e estrutura dos circuitos aproximados, buscando a maior cobertura a falhas possível. Usamos circuitos TMR compostos por lógica aproximada contendo portas lógicas complexas com lógica aproximada ou com portas lógicas em multi-nível. Todos os testes foram feitos através de injeção de falhas em nível elétrico e em nível lógico. Resultados mostraram que a área pode ser reduzida significativamente, de 200% para próximo de 85%, e ainda sim alcançar um mascaramento de falhas superior a 95%.
id URGS_b1e96eec7cbf3e1cffd0abfc12f33405
oai_identifier_str oai:www.lume.ufrgs.br:10183/99056
network_acronym_str URGS
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
repository_id_str
spelling Gomes, Iuri Albandes CunhaKastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima2014-08-02T02:10:44Z2014http://hdl.handle.net/10183/99056000930408Este trabalho consiste no estudo acerca da técnica de redundância modular tripla usando circuitos aproximados para tolerância a falhas transientes em circuitos digitais. O uso da técnica redundância modular tripla tradicional, conhecida como TMR, garante mascaramento lógico total contra falhas transiente únicas para um dado circuito. No entanto a técnica TMR apresenta um custo extra em área de no mínimo 200% quando comparado com o circuito original. De modo a reduzir o custo extra em área sem comprometer significativamente a cobertura de falhas, a TMR pode usar uma abordagem de circuitos aproximados para gerar módulos redundantes, estes sendo otimizados em área quando comparados com o módulo original. Estudos iniciais desta técnica demonstraram que é possível obter um bom equilíbrio entre custo extra de área e capacidade de mascaramento de falhas. Neste trabalho, aprofundamos a análise desta abordagem utilizando um novo método para computar as funções lógicas aproximadas e a seleção da melhor composição e estrutura dos circuitos aproximados, buscando a maior cobertura a falhas possível. Usamos circuitos TMR compostos por lógica aproximada contendo portas lógicas complexas com lógica aproximada ou com portas lógicas em multi-nível. Todos os testes foram feitos através de injeção de falhas em nível elétrico e em nível lógico. Resultados mostraram que a área pode ser reduzida significativamente, de 200% para próximo de 85%, e ainda sim alcançar um mascaramento de falhas superior a 95%.This work consists in the study about the fault tolerance technique TMR in conjunction with approximate computing to mitigate transient faults in digital circuits. The use of Triple Modular Redundancy (TMR) with majority voters can guarantee full single fault masking coverage for a given circuit against transient faults. However, it presents a minimum area overhead of 200% compared to the original circuit. In order to reduce area overhead without compromising significantly the fault coverage, TMR can use approximated circuits approach to generate redundant modules that are optimized in area compared to the original module. Initial studies of this technique have shown that it is possible to reach a good balance between fault coverage and area overhead cost. In this work, we do a further analysis of this approach by using a new method to compute approximate functions and to select the best combinations of approximate circuits targeting the highest fault coverage possible. We use TMR circuits composed exclusively by complex gates and multi-level logic gates. All the tests are done using electrical fault injection, using NGSPICE, and in logical level using the fault injection tool designed specifically for this study. Results show that area overhead can be reduced greatly from 200% to 85%and still reaching fault coverage of more than 95%.application/pdfporMicroeletrônicaCircuitos digitaisTolerancia : FalhasUso de redundância modular tripla aproximada para tolerância a falhas em circuitos digitaisThe use of approximate-TMR for fault-tolerant digital circuits info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de InformáticaPrograma de Pós-Graduação em ComputaçãoPorto Alegre, BR-RS2014mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL000930408.pdf000930408.pdfTexto completoapplication/pdf4695142http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/99056/1/000930408.pdf43b6f7c3ef15dad80424042181bc0970MD51TEXT000930408.pdf.txt000930408.pdf.txtExtracted Texttext/plain156692http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/99056/2/000930408.pdf.txt830027a3583bd3b5be1f8835d279f95fMD52THUMBNAIL000930408.pdf.jpg000930408.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1126http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/99056/3/000930408.pdf.jpg985c9b0027ea00847bc46c454c33c7c8MD5310183/990562018-10-22 08:26:53.225oai:www.lume.ufrgs.br:10183/99056Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532018-10-22T11:26:53Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
dc.title.pt_BR.fl_str_mv Uso de redundância modular tripla aproximada para tolerância a falhas em circuitos digitais
dc.title.alternative.en.fl_str_mv The use of approximate-TMR for fault-tolerant digital circuits
title Uso de redundância modular tripla aproximada para tolerância a falhas em circuitos digitais
spellingShingle Uso de redundância modular tripla aproximada para tolerância a falhas em circuitos digitais
Gomes, Iuri Albandes Cunha
Microeletrônica
Circuitos digitais
Tolerancia : Falhas
title_short Uso de redundância modular tripla aproximada para tolerância a falhas em circuitos digitais
title_full Uso de redundância modular tripla aproximada para tolerância a falhas em circuitos digitais
title_fullStr Uso de redundância modular tripla aproximada para tolerância a falhas em circuitos digitais
title_full_unstemmed Uso de redundância modular tripla aproximada para tolerância a falhas em circuitos digitais
title_sort Uso de redundância modular tripla aproximada para tolerância a falhas em circuitos digitais
author Gomes, Iuri Albandes Cunha
author_facet Gomes, Iuri Albandes Cunha
author_role author
dc.contributor.author.fl_str_mv Gomes, Iuri Albandes Cunha
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Kastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima
contributor_str_mv Kastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima
dc.subject.por.fl_str_mv Microeletrônica
Circuitos digitais
Tolerancia : Falhas
topic Microeletrônica
Circuitos digitais
Tolerancia : Falhas
description Este trabalho consiste no estudo acerca da técnica de redundância modular tripla usando circuitos aproximados para tolerância a falhas transientes em circuitos digitais. O uso da técnica redundância modular tripla tradicional, conhecida como TMR, garante mascaramento lógico total contra falhas transiente únicas para um dado circuito. No entanto a técnica TMR apresenta um custo extra em área de no mínimo 200% quando comparado com o circuito original. De modo a reduzir o custo extra em área sem comprometer significativamente a cobertura de falhas, a TMR pode usar uma abordagem de circuitos aproximados para gerar módulos redundantes, estes sendo otimizados em área quando comparados com o módulo original. Estudos iniciais desta técnica demonstraram que é possível obter um bom equilíbrio entre custo extra de área e capacidade de mascaramento de falhas. Neste trabalho, aprofundamos a análise desta abordagem utilizando um novo método para computar as funções lógicas aproximadas e a seleção da melhor composição e estrutura dos circuitos aproximados, buscando a maior cobertura a falhas possível. Usamos circuitos TMR compostos por lógica aproximada contendo portas lógicas complexas com lógica aproximada ou com portas lógicas em multi-nível. Todos os testes foram feitos através de injeção de falhas em nível elétrico e em nível lógico. Resultados mostraram que a área pode ser reduzida significativamente, de 200% para próximo de 85%, e ainda sim alcançar um mascaramento de falhas superior a 95%.
publishDate 2014
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2014-08-02T02:10:44Z
dc.date.issued.fl_str_mv 2014
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/10183/99056
dc.identifier.nrb.pt_BR.fl_str_mv 000930408
url http://hdl.handle.net/10183/99056
identifier_str_mv 000930408
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
instname_str Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron_str UFRGS
institution UFRGS
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
bitstream.url.fl_str_mv http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/99056/1/000930408.pdf
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/99056/2/000930408.pdf.txt
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/99056/3/000930408.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv 43b6f7c3ef15dad80424042181bc0970
830027a3583bd3b5be1f8835d279f95f
985c9b0027ea00847bc46c454c33c7c8
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
repository.mail.fl_str_mv lume@ufrgs.br||lume@ufrgs.br
_version_ 1831315950093205504

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