Modelo para projeção de custo e capacidade para testes de semicondutores

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2016
Autor(a) principal: Fantinel, William Mendes
Orientador(a): Lubaszewski, Marcelo Soares
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Semicondutores
Microeletrônica
Palavras-chave em Inglês:
ATE
Semiconductor tests
Cost of semiconductor tests
Link de acesso: http://hdl.handle.net/10183/153231
Resumo: Este trabalho tem como objetivo estudar os métodos de desenvolvimento de testes de semicondutores em testadores de baixo custo e propor ferramentas que proporcionem a redução dos custos da realização destes testes. Para isto, o trabalho apresenta, em sua primeira parte, uma introdução aos testadores automáticos de semicondutores, explicando o que eles são e para que eles servem. Em seguida são apresentados os mecanismos de testes de semicondutores, tanto internos quanto externos ao circuito integrado. Logo após são mostrados três estudos de caso de circuitos integrados distintos que exemplificam a implementação dos seus respectivos testes. Na segunda parte do trabalho, são apresentados os conceitos de custo do teste de semicondutores. Com o uso destes conceitos, são feitas análises para os três estudos de caso já apresentados através de ferramentas de análise de custo do teste.
id URGS_b671b91f4fcfd87a73870e14ad2fd8be
oai_identifier_str oai:www.lume.ufrgs.br:10183/153231
network_acronym_str URGS
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
repository_id_str
spelling Fantinel, William MendesLubaszewski, Marcelo Soares2017-03-16T02:20:19Z2016http://hdl.handle.net/10183/153231001014654Este trabalho tem como objetivo estudar os métodos de desenvolvimento de testes de semicondutores em testadores de baixo custo e propor ferramentas que proporcionem a redução dos custos da realização destes testes. Para isto, o trabalho apresenta, em sua primeira parte, uma introdução aos testadores automáticos de semicondutores, explicando o que eles são e para que eles servem. Em seguida são apresentados os mecanismos de testes de semicondutores, tanto internos quanto externos ao circuito integrado. Logo após são mostrados três estudos de caso de circuitos integrados distintos que exemplificam a implementação dos seus respectivos testes. Na segunda parte do trabalho, são apresentados os conceitos de custo do teste de semicondutores. Com o uso destes conceitos, são feitas análises para os três estudos de caso já apresentados através de ferramentas de análise de custo do teste.The goal of this work is to study development methods of semiconductor tests in low-cost tests and propose tools in order to provide cost reduction of these tests. In order to do so, this work presents, in its first part, an introduction to automatic test equipments, explaining what are ATEs and what is their purpose. Then it presents semiconductor testing mechanisms, both internal and external to the integrated circuit. Then three case studies are presented in separate integrated circuits that exemplify the implementation of the respective tests. In the second part, the concepts of semiconductor test costs are presented. With the use of these concepts, analysis are accomplished for the three case studies, through test cost analysis tools.application/pdfporSemicondutoresMicroeletrônicaATESemiconductor testsCost of semiconductor testsModelo para projeção de custo e capacidade para testes de semicondutoresModel for cost projection and capability for semiconductor tests info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de InformáticaPrograma de Pós-Graduação em MicroeletrônicaPorto Alegre, BR-RS2016mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL001014654.pdf001014654.pdfTexto completoapplication/pdf3867895http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/153231/1/001014654.pdf73466df7c300e932fbd8549173b55c89MD51TEXT001014654.pdf.txt001014654.pdf.txtExtracted Texttext/plain229610http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/153231/2/001014654.pdf.txte8dee2348e05bdd9da015b8f97eae15eMD52THUMBNAIL001014654.pdf.jpg001014654.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1043http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/153231/3/001014654.pdf.jpgdb8b72028151929b8b2c18d67e9a64d5MD5310183/1532312018-10-22 08:16:24.92oai:www.lume.ufrgs.br:10183/153231Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532018-10-22T11:16:24Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
dc.title.pt_BR.fl_str_mv Modelo para projeção de custo e capacidade para testes de semicondutores
dc.title.alternative.en.fl_str_mv Model for cost projection and capability for semiconductor tests
title Modelo para projeção de custo e capacidade para testes de semicondutores
spellingShingle Modelo para projeção de custo e capacidade para testes de semicondutores
Fantinel, William Mendes
Semicondutores
Microeletrônica
ATE
Semiconductor tests
Cost of semiconductor tests
title_short Modelo para projeção de custo e capacidade para testes de semicondutores
title_full Modelo para projeção de custo e capacidade para testes de semicondutores
title_fullStr Modelo para projeção de custo e capacidade para testes de semicondutores
title_full_unstemmed Modelo para projeção de custo e capacidade para testes de semicondutores
title_sort Modelo para projeção de custo e capacidade para testes de semicondutores
author Fantinel, William Mendes
author_facet Fantinel, William Mendes
author_role author
dc.contributor.author.fl_str_mv Fantinel, William Mendes
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Lubaszewski, Marcelo Soares
contributor_str_mv Lubaszewski, Marcelo Soares
dc.subject.por.fl_str_mv Semicondutores
Microeletrônica
topic Semicondutores
Microeletrônica
ATE
Semiconductor tests
Cost of semiconductor tests
dc.subject.eng.fl_str_mv ATE
Semiconductor tests
Cost of semiconductor tests
description Este trabalho tem como objetivo estudar os métodos de desenvolvimento de testes de semicondutores em testadores de baixo custo e propor ferramentas que proporcionem a redução dos custos da realização destes testes. Para isto, o trabalho apresenta, em sua primeira parte, uma introdução aos testadores automáticos de semicondutores, explicando o que eles são e para que eles servem. Em seguida são apresentados os mecanismos de testes de semicondutores, tanto internos quanto externos ao circuito integrado. Logo após são mostrados três estudos de caso de circuitos integrados distintos que exemplificam a implementação dos seus respectivos testes. Na segunda parte do trabalho, são apresentados os conceitos de custo do teste de semicondutores. Com o uso destes conceitos, são feitas análises para os três estudos de caso já apresentados através de ferramentas de análise de custo do teste.
publishDate 2016
dc.date.issued.fl_str_mv 2016
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2017-03-16T02:20:19Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/10183/153231
dc.identifier.nrb.pt_BR.fl_str_mv 001014654
url http://hdl.handle.net/10183/153231
identifier_str_mv 001014654
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
instname_str Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron_str UFRGS
institution UFRGS
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
bitstream.url.fl_str_mv http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/153231/1/001014654.pdf
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/153231/2/001014654.pdf.txt
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/153231/3/001014654.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv 73466df7c300e932fbd8549173b55c89
e8dee2348e05bdd9da015b8f97eae15e
db8b72028151929b8b2c18d67e9a64d5
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
repository.mail.fl_str_mv lume@ufrgs.br||lume@ufrgs.br
_version_ 1831316011897323520

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