A remanência magnética e a textura cristalográfica em ímãs sinterizados tipo Sm\'Co IND.5\'.

• Ano de defesa: 1998
• Autor(a) principal: Machado, Rogério
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
• Palavras-chave em Português: Materiais; Materials
• Link de acesso: https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/3/3133/tde-09082024-131916/

Neste trabalho foram analisadas 19 amostras provenientes de um conjunto de 12 ímãs, 6 deles obtidos via compactação uniaxial e 6 outros via compactação isostática, com o objetivo de correlacionar a remanência magnética à textura cristalográfica. A textura cristalográfica foi obtida com ajuda da técnica de difração de raios-X através da determinação de figuras de pólo e de difratogramas. Com os dados das figuras de pólo do plano (002) da fase Sm´Co IND.5´ foram gerados 19 perfis de alinhamento. Com os perfis de alinhamento foram determinados os valores do índice de alinhamento \'G IND.f\'= <cos\'qui\'>. O ângulo \'qui\' foi definido como o ângulo entre a direção [001] do cristal de Sm´Co IND.5´ e a direção de magnetização. Comos dados dos difratogramas foram geradas 18 curvas de densidade de pólo. Com as curvas de densidade de pólo foram determinados os índices de alinhamento \'sigma\' e \'G IND.d\'. O primeiro índice está associado ao desvio padrão da gaussiana ajustadaaos dados da curva de densidade de pólo. O segundo índice foi derivado do primeiro a partir da aplicação de uma transformação adequada. O índice de alinhamento \'G IND.d\' foi criado para permitir uma comparação direta com os valores dos índices\'G IND.f\' e \'G IND.m\'= \'J IND.r\'/\'J IND.s\'. A correlação entre a textura cristalográfica e a remanência magnética foi realizada por meio da comparação dos valores dos índices \'G IND.f\', \'G IND.d\' e \'sigma\' com os valores do índice \'G IND.m\'. A comparação dosvalores dos 4 índices de alinhamento levou a explorar-se uma possível existência de um novo componente microestrutural. Junto a isso apresenta-se a localização de uma linha de difração ainda não identificada. São indicadas, também, uma diferenciação entre a direção de corte e a direção de magnetização do ímã, pela aplicação do índice \'G IND.f\', e, uma possível variação do alinhamento das partículas ao longo da direção longitudinal dos compactados ) (uniaxiais e isostáticos).