Caracterização magnética e magnetoóptica de filmes finos amorfos de terra rara-Fe-Co
| Ano de defesa: | 2000 |
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| Tipo de documento: | Dissertação |
| Tipo de acesso: | Acesso aberto |
| Idioma: | por |
| Instituição de defesa: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
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| Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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| Departamento: |
Não Informado pela instituição
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| País: |
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| Palavras-chave em Português: | |
| Link de acesso: | https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-14072021-153319/ |
Resumo: | Construímos um magnetômetro a efeito Kerr na configuração polar (MEK-pol) que permite fazer medidas com a amostra entre 7 a 400K em campos magnéticos de até 20kOe. Esse equipamento possibilita obter informações sobre a componente perpendicular da magnetização das amostras e foi adaptado a outro que fornece dados relativos a componentes planar, aumentando sua capacidade de caracterização. Para testar esse sistema, foram utilizados filmes finos amorfos de Tb-Fe e Tb-Fe-Co, com 20 a 30% detérbio, pois eles podem apresentar anisotropia magnética perpendicular ao plano do filme. Os filmes foram produzidos por sputterings, têm espessura entre 800Á e 1000Á e sua caracterização magnética foi feita com um magnetômetro de amostra vibrante (MAV), à temperatura ambiente e com um SQUID. Essas informações foram usadas como parâmetro para os testes com o MEK-pol demonstraram que o equipamento é estável, mesmo para medidas em baixas temperaturas e que é uma ferramenta importante na caracterização magneto óptica de filmes finos Magnetismo e Materiais Magnéticos |
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Caracterização magnética e magnetoóptica de filmes finos amorfos de terra rara-Fe-CoMagnetooptic and magnetic characterization of rare earth-Fe-Co amorphous thin filmsFILMES FINOSFINE FILMSMAGNETIC MATERIALSMATERIAIS MAGNÉTICOSConstruímos um magnetômetro a efeito Kerr na configuração polar (MEK-pol) que permite fazer medidas com a amostra entre 7 a 400K em campos magnéticos de até 20kOe. Esse equipamento possibilita obter informações sobre a componente perpendicular da magnetização das amostras e foi adaptado a outro que fornece dados relativos a componentes planar, aumentando sua capacidade de caracterização. Para testar esse sistema, foram utilizados filmes finos amorfos de Tb-Fe e Tb-Fe-Co, com 20 a 30% detérbio, pois eles podem apresentar anisotropia magnética perpendicular ao plano do filme. Os filmes foram produzidos por sputterings, têm espessura entre 800Á e 1000Á e sua caracterização magnética foi feita com um magnetômetro de amostra vibrante (MAV), à temperatura ambiente e com um SQUID. Essas informações foram usadas como parâmetro para os testes com o MEK-pol demonstraram que o equipamento é estável, mesmo para medidas em baixas temperaturas e que é uma ferramenta importante na caracterização magneto óptica de filmes finos Magnetismo e Materiais MagnéticosMagnetooptic and magnetic characterization of rare earth-Fe-Co amorphous thin filmsBiblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USPSantos, Antonio Domingues dosSanti, Carlos Eduardo2000-04-11info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdfhttps://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43133/tde-14072021-153319/reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USPinstname:Universidade de São Paulo (USP)instacron:USPLiberar o conteúdo para acesso público.info:eu-repo/semantics/openAccesspor2021-07-15T00:34:02Zoai:teses.usp.br:tde-14072021-153319Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttp://www.teses.usp.br/PUBhttp://www.teses.usp.br/cgi-bin/mtd2br.plvirginia@if.usp.br|| atendimento@aguia.usp.br||virginia@if.usp.bropendoar:27212021-07-15T00:34:02Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP - Universidade de São Paulo (USP)false |
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