Estabilização de lasers de semicondutores.

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 1989
Autor(a) principal: La Scala Junior, Newton
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Lasers
Medidor de onda
Optical properties
Propriedades ópticas
Semiconductors
Semicondutores
Wavemeter
Link de acesso: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54132/tde-08062009-094348/
Resumo: Neste trabalho apresentamos uma instrumentação que é capaz de estabilizar e medir o comprimento de onda emitido por um laser de semicondutor em 1 parte de 106. Para obtermos essa precisão foi necessário desenvolver um controlador de temperatura, uma fonte de corrente e um medidor de onda.
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