Estudo de detectores semicondutores de GaAs para detecção de íons pesados em Física Nuclear
| Ano de defesa: | 2025 |
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| Tipo de documento: | Dissertação |
| Tipo de acesso: | Acesso aberto |
| Idioma: | por |
| Instituição de defesa: |
Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USP
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| Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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| País: |
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| Palavras-chave em Português: | |
| Link de acesso: | https://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-13122025-163134/ |
Resumo: | O objetivo deste trabalho foi determinar a resposta de diodos Schottky de Arseneto de Gálio (GaAs) sob a incidência de partículas pesadas. Detectores de barreira Schottky foram produzidos utilizando um wafer de GaAs não dopado, com contato ôhmico de NiGeAu(25/55/150 nm) e contato Schottky de Ti/Pt/Au(20/100/200 nm). A irradiação no dispositivo foi realizada para íons de 1H, 16O, 35Cl, e 63Cu, com energias entre 14.5 MeV à 90 MeV a fim de se ter um intervalo amplo de energias e massas atômicas. Todas as irradiações foram feiras no sistema SAFIIRA(Sistema de Feixes Iônicos para Irradiações e Aplicações), no acelerador Pelletron-IFUSP. Simulações das caracteristicas do dispositivo irradiado foram feitas utilizando o software ECORCE(Étude du Comportement sous Radiation des Composants Électroniques). Os tempos de subida foram medidos em função da tensão sob polarização direta e reversa do detector, atingindo 5.96(45) à -140 V de tensão reversa e acima de 55(1) ns para polarização direta. O tempo de resposta para todos os íons incidentes foi menor que 11 ns sob polarização reversa acima de -20 V e independente do íon. Ocorreram efeitos no espectro de energia que indicam que sua resolução necessita de melhorias para seu devido uso em física nuclear, possivelmente necessitando uma maior pureza do GaAs utilizado. |
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Estudo de detectores semicondutores de GaAs para detecção de íons pesados em Física NuclearStudy of GaAs semiconductor detectors for heavy-ion detection in Nuclear Physicsdetectores de radiaçãodispositivos semicondutoresinstrumentação nuclearnuclear instrumentationradiation detectorssemiconductor devicesO objetivo deste trabalho foi determinar a resposta de diodos Schottky de Arseneto de Gálio (GaAs) sob a incidência de partículas pesadas. Detectores de barreira Schottky foram produzidos utilizando um wafer de GaAs não dopado, com contato ôhmico de NiGeAu(25/55/150 nm) e contato Schottky de Ti/Pt/Au(20/100/200 nm). A irradiação no dispositivo foi realizada para íons de 1H, 16O, 35Cl, e 63Cu, com energias entre 14.5 MeV à 90 MeV a fim de se ter um intervalo amplo de energias e massas atômicas. Todas as irradiações foram feiras no sistema SAFIIRA(Sistema de Feixes Iônicos para Irradiações e Aplicações), no acelerador Pelletron-IFUSP. Simulações das caracteristicas do dispositivo irradiado foram feitas utilizando o software ECORCE(Étude du Comportement sous Radiation des Composants Électroniques). Os tempos de subida foram medidos em função da tensão sob polarização direta e reversa do detector, atingindo 5.96(45) à -140 V de tensão reversa e acima de 55(1) ns para polarização direta. O tempo de resposta para todos os íons incidentes foi menor que 11 ns sob polarização reversa acima de -20 V e independente do íon. Ocorreram efeitos no espectro de energia que indicam que sua resolução necessita de melhorias para seu devido uso em física nuclear, possivelmente necessitando uma maior pureza do GaAs utilizado.The aim of this work was to determine the response of Gallium Arsenide (GaAs) Schottky diodes under heavy ion irradiation. Schottky barrier detectors were fabricated using an undoped GaAs wafer, with NiGeAu(25/55/150 nm) ohmic contact and Ti/Pt/Au(20/100/200 nm) Schottky contact. The devices were irradiated with ions of 1H, 16O, 34Cl, and 63Cu, with energies ranging from 14.5 MeV to 90 MeV, to cover a wide range of energy and atomic mass. All irradiations were performed at the SAFIIRA (Sistema de Feixes Iônicos para Irradiações e Aplicações) facility, using the Pelletron-IFUSP accelerator. Simulations of the irradiated characteristics of devices were conducted using the ECORCE (Étude du Comportement sous Radiation des Composants Électroniques) software. Rise times were measured as a function of voltage under both forward and reverse bias conditions, reaching as low as 5.96(45) ns at -140 V reverse bias and over 55(1) ns under forward bias. The response time for all incident ions was below 11 ns under reverse bias above -20 V, independent of the ion. Effects on the spectra were observed, indicating that the energy resolution requires improvement for nuclear physics usage, potentially through higher wafer purity of GaAs.Biblioteca Digitais de Teses e Dissertações da USPAdded, NemitalaAguiar, Vitor Ângelo Paulino dePereira, Matheus Souza2025-11-18info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdfhttps://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/43/43134/tde-13122025-163134/reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USPinstname:Universidade de São Paulo (USP)instacron:USPLiberar o conteúdo para acesso público.info:eu-repo/semantics/openAccesspor2025-12-15T16:40:02Zoai:teses.usp.br:tde-13122025-163134Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttp://www.teses.usp.br/PUBhttp://www.teses.usp.br/cgi-bin/mtd2br.plvirginia@if.usp.br|| atendimento@aguia.usp.br||virginia@if.usp.bropendoar:27212025-12-15T16:40:02Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP - Universidade de São Paulo (USP)false |
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